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江蘇滬儀自動化儀表有限公司
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產(chǎn)品簡介
它的性能，特別是在測量高粉塵固體物料和低介電常數(shù)液體物位。標配瞄準器的固體版使物位計可以非常方便地將天線對準物料表面。SITRANS LR 400可提供普通型產(chǎn)品和隔爆型產(chǎn)品。
產(chǎn)品介紹
5600雷達物位計長量程24GHz連續(xù)波調(diào)頻雷達物位計。液體型用于測量液體儲罐液位，固體型帶球型天線瞄準器，用于固體物料料位測量。
它的性能，特別是在測量高粉塵固體物料和低介電常數(shù)液體物位。標配瞄準器的固體版使物位計可以非常方便地將天線對準物料表面。SITRANS LR 400可提供普通型產(chǎn)品和隔爆型產(chǎn)品。
5600雷達物位計外殼堅固，法蘭連接方式，喇叭型天型。它的測量不受容器內(nèi)蒸汽和溫度的影響。
可在現(xiàn)場通過本安型紅外手持編程器對儀表進行編程，無需打開外殼，安全、簡單。也可使用SIMATIC PDM軟件進行遠程編程。
24GHz的發(fā)射頻率和高信/噪比使其即使在測量低介電常數(shù)介質(zhì)時，仍有很好的信號反射。它先進的回波處理算法使其應用于固體物料時仍能提供可靠的測量。
產(chǎn)品特點
主要應用：水泥粉末、飛灰、煤粉、面粉、糧食和塑料
安裝簡單，低維護
帶內(nèi)部參考的自校驗
內(nèi)置診斷功能
先進的回波處理
*的信噪比
HART或Profibus-PA通訊
現(xiàn)場編程或SIMATIC PDM編程設置參數(shù)
使用本安紅外手持編程器，或SIMATIC PDM 或HART手操器編程
選項：
吹掃清洗系統(tǒng)（自清潔天線系統(tǒng)）
個特殊的吹掃清洗系統(tǒng)用于易掛料的潮濕介質(zhì)的應用。在法蘭上有一個用于吹掃的氣體或液體（一般是空氣或水）的進口。吹掃介質(zhì)由一個小溝進入過程連接，被擾動清洗，從喇叭天線中出來。如果用氣體吹掃，它可以連續(xù)工作，因為氣體不會影響微波，如果用液體清洗，則需要一個手動或自動閥對系統(tǒng)進行不定期的清洗，因為清洗是液體會使信號暫時丟失。
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雷達液位計發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。
即使工況比較復雜的情況下，存在虛假回波，用的微處理技術和調(diào)試軟件也可以準確的分析出物位的回波。
輸入：天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對此信號進行處理，識別出微脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，精度可達到毫米級。距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比： D=C×T/2
其中C為光速：因空罐的距離E已知，則物位L為： L=E-D
輸出：通過輸入空罐高度E（=零點），滿罐高度F（=滿量程）及一些應用參數(shù)來設定，應用參數(shù)將自動使儀表適應測量環(huán)境。對應于4－20mA輸出。
應用介質(zhì)：適用于對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量，適用于溫度、壓力變化大；有惰性氣體及揮發(fā)存在的場合。采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常工作。波束能量較低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。編輯本段安裝說明
推薦距離：墻至安裝短管的外壁，離罐壁為罐直徑1/6處，小距離為200mm。不能安裝在入料口的上方，不能安裝在中心位置，如果安裝在中央，會產(chǎn)生多重虛假回波，干擾回波會導致信號丟失。如果不能保持儀表與罐壁的距離，罐壁上的介質(zhì)會黏附造成虛假回波，在調(diào)試儀表的時候應該進行虛假回波存儲。編輯本段注意事項：測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐底為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。若介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐底可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。
理論上測量達到天線*的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的*至少100mm。對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。小測量范圍與天線有關。隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。
安裝要求：
1. 推薦距離墻至安裝短管的外壁。
2. 離罐壁為罐直徑1/6處，小距離為200mm。
3. 不能安裝在入料口的上方。
4.如果不能保持儀表與罐壁的距離，罐壁上的介質(zhì)會黏附造成虛假回波，在調(diào)試儀表的時候應該進行虛假回波存儲。
注意事項：
測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。若介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。理論上測量達到天線*的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的*至少100mm。對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。小測量范圍與天線有關。隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。
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http://caturday.cn/st37933
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