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更新時(shí)間:2024-01-26 12:49:24瀏覽次數(shù):93次
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所在地區(qū):廣東深圳市
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ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀
ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀 ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類(lèi)似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。 ![]() ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀 1、采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定 2、低功耗 3、采用單個(gè)電池供電,帶電池欠壓指示 4、 儀器體積僅為:130mmX65mm X23mm 5、 特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜 6、探頭帶抗靜電模塊 ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀
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