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菲希爾Fischer Dualscope FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀

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更新時(shí)間：2023-08-22 12:58:27瀏覽次數(shù)：170次

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菲希爾Fischer Dualscope FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀

詳細(xì)介紹

菲希爾Fischer Dualscope FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀

FMP10、 FMP20、 FMP30、 FMP40涂鍍層測(cè)厚儀為您提供解決方案
新一代手提式儀器和可更換的探頭可以提供無損且高精度的涂鍍層厚度測(cè)量。無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是在來料檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì) 提供友好的用戶體驗(yàn)和多樣的選擇來滿足您的需求。
由于采用了模塊化設(shè)計(jì)，您可以為您的特殊需求分別選擇儀器和探頭。對(duì)于儀器，您可以根據(jù)您的應(yīng)用從的FMP家族（參見右側(cè)表格）中選?。粚?duì)于探頭，我們?yōu)槟峁┝舜罅扛呔鹊奶筋^，相信一定有一款適合您

菲希爾Fischer Dualscope FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀特殊功能
• 根據(jù)磁感應(yīng)法和（或）電渦流法無損測(cè)量涂鍍層厚度。
• 自動(dòng)識(shí)別探頭和基材。
• 堅(jiān)固的外殼及高對(duì)比度大尺寸圖形顯示器。
• 儀器操作簡(jiǎn)單，具備多種統(tǒng)計(jì)評(píng)估能力。
• USB 接口可以連接計(jì)算機(jī)，F(xiàn)MP30-40 還可以連接打印機(jī)。
• 創(chuàng)新的探頭技術(shù)使得測(cè)量更精確，測(cè)量范圍更廣

您一定能從新的FMP家族中找到適合您的儀器。選擇儀器的主要標(biāo)準(zhǔn)是涂鍍層的種類及其底材的材料，然后再?zèng)Q定您是要一個(gè)基本款的儀器(FMP10/FMP20)，亦或是擁有擴(kuò)展的應(yīng)用程式存儲(chǔ)內(nèi)存、大量的圖形和統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能以及多種測(cè)量選項(xiàng)的機(jī)型(FMP30/ FMP40)。

DELTASCOPE® FMP10 或 FMP30 可以測(cè)量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度，例如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。
ISOSCOPE® FMP10 和 FMP30 可以測(cè)量非鐵磁金屬基材上涂料、油漆、塑料涂層和陽極氧化層的厚度。
DUALSCOPE® FMP20 和 FMP40 能夠自動(dòng)識(shí)別底材材料并且集成了兩種測(cè)量方法，使這個(gè)系列的儀器可以測(cè)量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。由于集合了兩種測(cè)量方法，這個(gè)系列的儀器還能夠在一次測(cè)量過程中同時(shí)測(cè) 得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來。涂鍍層測(cè)厚儀 DELTASCOPE® FMP10

涂鍍層測(cè)厚儀 DELTASCOPE® FMP10, ISOSCOPE® FMP10, DUALSCOPE® FMP20功能

• 可以配合所有基于磁感應(yīng)法和渦流法的探頭使用
• 自動(dòng)識(shí)別探頭
• 自動(dòng)識(shí)別底材 (FMP20)
• 儀器操作界面友好
• USB接口可以連接計(jì)算機(jī)
• 240x160像素高對(duì)比度大尺寸顯示屏
• 開機(jī)后即可測(cè)量 • 插入探頭即可測(cè)量
• 測(cè)量完成后聲音提示
• 通過簡(jiǎn)單的零位修正就能適應(yīng)底材形狀(歸一化)
• 校準(zhǔn)簡(jiǎn)便(使用一到兩片箔片)
• 針對(duì)罕見材料或者形狀復(fù)雜的產(chǎn)品設(shè)置主校準(zhǔn)模式 (需配合主校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片使用)
• 可以調(diào)節(jié)儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間和連續(xù)使用時(shí)間
• 儀器狀態(tài)顯示(例如：電量低時(shí)出現(xiàn)的警告信息)
• 鍵盤鎖/功能限制模式
• 滑蓋保護(hù)鍵盤
• 多語言顯示
• 測(cè)量結(jié)果的單位可在μm和mils之間切換

應(yīng)用程式存儲(chǔ)
• 可以儲(chǔ)存一個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。
統(tǒng)計(jì)和計(jì)算
• 顯示統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，例如：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、和最小值、讀數(shù)范圍。
測(cè)量方式
• 單次測(cè)量
• 用“連續(xù)測(cè)量”模式測(cè)量可以對(duì)樣品表面進(jìn)行連續(xù)掃描。