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深圳君達儀器儀表有限公司


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Ficherscoper X-RAY XDL X射線熒光光譜儀

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品       牌

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更新時間：2023-08-18 13:24:11瀏覽次數(shù)：74次

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經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：1496條

所在地區(qū)：廣東深圳市

聯(lián)系人：劉水紅 （經(jīng)理）

產(chǎn)品簡介

Ficherscoper X-RAY XDL X射線熒光光譜儀

詳細介紹

Ficherscoper X-RAY XDL X射線熒光光譜儀

Ficherscoper X-RAY XDL X射線熒光光譜儀配備了比例計數(shù)管探測器，適用于質(zhì)量控制，來料檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控。由于它測量空間大，故而適合測量有復雜幾何形狀的大尺寸樣品。XDL系列不僅可以配備簡單樣品平臺，還可以配置不同的XY工作臺和Z軸。因而可用于自動化批量測試。
典型的應用為測量電鍍鍍層及電子半導體工業(yè)中的功能性鍍層。XDL型儀器還可以快速精確測量防腐蝕性或裝飾性鍍層，如銅上鍍鎳。此外還可以測量電鍍?nèi)芤旱某煞帧?br> 配備微距焦X射線管的XDLM型儀器是測量微小結構（如插針和其他電子元器件）的理想設備
Ficherscoper X-RAY XDL X射線熒光光譜儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
配備硅PIN探測器及微距焦X射線管的XDAL型儀器即使在含量很小和鍍層很薄的情況下，也可以提供可靠的分析結果。它適用于來料檢驗，生產(chǎn)監(jiān)控及研發(fā)領域。XDAL配備有可切換準直器、基本慮片及快速可編程XY平臺。因而可以在運行過程中自動對準測量位置，自動完成不同批次的測量。

XDAL型儀器的典型應用包括硬質(zhì)鍍層分析，如鉆頭和切割設備、合金材料分析以及電子和半導體工業(yè)中的超薄鍍層測量。此外，使用XDAL型儀器，還可完成于航空技術中的“高可靠性”檢測以及RoHS指令中的電子產(chǎn)品檢測，如檢測焊料鍍層中的鉛含量等。

 


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