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北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司
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X熒光光譜儀 鍍層厚度測量檢測儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號JC15-EDX3600L

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時(shí)間:2021-05-13 19:10:07瀏覽次數(shù):534次

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X熒光光譜儀 鍍層厚度測量檢測儀
型號: JC15-EDX3600L
利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣,一次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量,再對照中國古陶瓷數(shù)據(jù)

X熒光光譜儀 鍍層厚度測量檢測儀

型號: JC15-EDX3600L

X熒光光譜儀 鍍層厚度測量檢測儀  儀器介紹

       我公司研制生產(chǎn)的EDX3600L型的儀器,利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣,一次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量,再對照中國古陶瓷數(shù)據(jù)庫便可以達(dá)到斷代斷源的功效。同時(shí),為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性,我公司特意根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔,以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。

       EDX3600L型儀器在測試陶瓷的同時(shí)亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬(Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等)等的化學(xué)成份和金屬鍍層厚度,做到一機(jī)多用,是古文物檢測*的科學(xué)檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協(xié)會等古文物收藏部門都是其用戶。

技術(shù)指標(biāo)

測量元素范圍:從鈉(Na)至鈾(U)

元素含量分析范圍:1ppm—99.99%

分析精度:0.05%

同時(shí)分析元素:幾十種元素同時(shí)分析

測量鍍層:鍍層厚度測量Z薄至0.01微米

測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體

測量時(shí)間:60s—200s 

管壓:5KV—50KV

管流:50uA—1000uA

輸入電壓:AC 110V/220V 

消耗功率:200W  

環(huán)境溫度: 15-26℃ 

相對濕度: ≤70% 

超大抽真空樣品腔:600*600*1000mm3

重 量 : 280KG

標(biāo)準(zhǔn)配置

電制冷UHRD探測器

內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號處理能力25倍

可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

內(nèi)置高清晰攝像頭

加強(qiáng)的金屬元素感度分析器

智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。

面光源

放大電路

高低壓電源

X光管

多變量非線性回歸程序

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

三重安全保護(hù)模式

應(yīng)用領(lǐng)域

古陶瓷

古青銅器

古首飾

鍍層測厚

X熒光光譜儀 鍍層厚度測量檢測儀

 

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