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單晶少子壽命測試儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號JC03-LT-2

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時間:2021-05-13 19:10:07瀏覽次數(shù):646次

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JC03-LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國A.S.T.M標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導體材料的少數(shù)載流子壽命測量,是半導體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。

單晶少子壽命測試儀硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命檢測儀半導體材料少數(shù)載流子壽命測量儀硅單晶多晶磷檢棒壽命測量儀

型號JC03-LT-2

JC03-LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國A.S.T.M標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導體材料的少數(shù)載流子壽命測量,是半導體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。

本儀器根據(jù)通用方法高頻光電導衰退法的原理設計,由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAspInP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。

單晶少子壽命測試儀  技 術(shù) 指 標:

測試單晶電阻率范圍>2Ω.cm

可測單晶少子壽命范圍5μS7000μS

配備光源類型波長:1.09μm;余輝<1μS

閃光頻率為:2030次/秒;

閃光頻率為:2030次/秒;

高頻振蕩源用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz

前置放大器放大倍數(shù)約25,頻寬2Hz-1MHz

儀器測量重復誤差<±20

測量方式采用對標準曲線讀數(shù)方式

儀器消耗功率<25W

儀器工作條件溫度:10-35、濕度<80%、使用電源:AC220V,50Hz

可測單晶尺寸斷面豎測:φ25mm150mm;L2mm500mm;

縱向臥測:φ25mm150mm;L50mm800mm;

配用示波器頻寬020MHz;

電壓靈敏:10mVcm;

 

 

 

 

  

單晶少子壽命測試儀

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