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北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司
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當(dāng)前位置：北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司>>檢測分析儀器>>在線檢測產(chǎn)品>> JC06-DZ電子薄膜應(yīng)力分布測試儀 基片曲率半徑測量測試儀 光學(xué)零件平整度面形檢測儀 微電子生產(chǎn)半導(dǎo)體基片檢測儀

電子薄膜應(yīng)力分布測試儀 基片曲率半徑測量測試儀 光學(xué)零件平整度面形檢測儀 微電子生產(chǎn)半導(dǎo)體基片檢測儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號JC06-DZ

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時間：2021-05-13 19:10:07瀏覽次數(shù)：592次

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劉

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電子薄膜應(yīng)力分布測試儀 基片曲率半徑測量測試儀 光學(xué)零件平整度面形檢測儀 微電子生產(chǎn)半導(dǎo)體基片檢測儀：該產(chǎn)品主要應(yīng)用在微電子、光電子生產(chǎn)線上和科研、教學(xué)等領(lǐng)域Si、Ge、GaAs等半導(dǎo)體基片及電子薄膜應(yīng)力分布、光學(xué)零件面形和平整度面形、基片曲率半徑測量測試。該儀器總測量點數(shù)多,能給出全場面型分布結(jié)果,適合于微電子生產(chǎn)線上產(chǎn)品質(zhì)量的快速檢驗和微電子生產(chǎn)工藝研究。

電子薄膜應(yīng)力分布測試儀 基片曲率半徑測量測試儀 光學(xué)零件平整度面形檢測儀 微電子生產(chǎn)半導(dǎo)體基片檢測儀

型號JC06-DZ

該產(chǎn)品主要應(yīng)用在微電子、光電子生產(chǎn)線上和科研、教學(xué)等領(lǐng)域Si、Ge、GaAs等半導(dǎo)體基片及電子薄膜應(yīng)力分布、光學(xué)零件面形和平整度面形、基片曲率半徑測量測試。該儀器總測量點數(shù)多,能給出全場面型分布結(jié)果,適合于微電子生產(chǎn)線上產(chǎn)品質(zhì)量的快速檢驗和微電子生產(chǎn)工藝研究。

儀器基于干涉計量的全場測試原理,可實時觀測面型的分布,迅速了解被測樣品的形貌及應(yīng)力集中位置,及時淘汰早期失效產(chǎn)品。

電子薄膜應(yīng)力分布測試儀 基片曲率半徑測量測試儀 光學(xué)零件平整度面形檢測儀 微電子生產(chǎn)半導(dǎo)體基片檢測儀  主要技術(shù)指標(biāo)

Z大樣品尺寸≤100mm（4英寸）

曲率范圍|R|≥5米

測試精度5%

單片測量時間3分鐘/片

結(jié)果類型面形、曲率半徑、應(yīng)力分布、公式表示、數(shù)據(jù)表格

圖形顯示功能三維立體顯示、二維偽彩色顯示、單截面曲線顯示

電源AC220V±10%,50Hz±5%

Z大功耗100W

外型尺寸（L×W×H）285mm×680mm×450mm

重量36kg


電子薄膜應(yīng)力分布測試儀 基片曲率半徑測量測試儀 光學(xué)零件平整度面形檢測儀 微電子生產(chǎn)半導(dǎo)體基片檢測儀

電子薄膜應(yīng)力分布測試儀 基片曲率半徑測量測試儀 光學(xué)零件平整度面形檢測儀 微電子生產(chǎn)半導(dǎo)體基片檢測儀

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