科環(huán)認(rèn)證級(jí)emc傳導(dǎo)輻射測(cè)試設(shè)備
KH3962 ¥50000
深圳市金博宇科技有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)KEITHLEY4200-SCS型半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)|美國(guó)吉時(shí)利
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所 在 地深圳市
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更新時(shí)間:2015-06-19 12:12:13瀏覽次數(shù):339次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)直觀的、點(diǎn)擊式Windows操作環(huán)境
·*的遠(yuǎn)端前置放大器,將SMU的分辨率擴(kuò)展至0.1fA
·用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
·集成了示波與脈沖測(cè)量功能的新型示波卡
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY4200-SCS型半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng) 金博宇*的詳細(xì)資料:
深圳市金博宇科技有限公司是專業(yè)從事測(cè)試儀器儀表設(shè)備的代理經(jīng)銷售后服務(wù)集成商,并與國(guó)內(nèi)外儀表生產(chǎn)廠商有著廣泛的技術(shù)與銷售合作.作為美國(guó)菲利爾FLIR、美國(guó)FLUKE、美國(guó)泰克、美國(guó)Keithley 、美國(guó)安捷倫Agilent、中國(guó)臺(tái)灣皇晶ACUTE、英國(guó)PEM、普源精電、青島青智、費(fèi)思泰克,華誼儀表,中國(guó)臺(tái)灣固緯,德國(guó)惠美, 法國(guó)CA,中國(guó)臺(tái)灣品致,長(zhǎng)盛儀器,美爾諾,等諸多國(guó)內(nèi)外代理與經(jīng)銷:主要銷售的測(cè)試儀器儀表有: 示波器、信號(hào)源、萬(wàn)用表、熱像儀、電流電壓探頭、電子負(fù)載、電源、頻譜、等測(cè)試儀器。。 |
·直觀的、點(diǎn)擊式Windows操作環(huán)境 容易使用的吉時(shí)利4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)的器件直流參數(shù)測(cè)試、實(shí)時(shí)繪圖與分析,具有高精度和亞f*的分辨率。它提供了的系統(tǒng)集成能力,包括完整的嵌入式PC機(jī),WindowsNT操作系統(tǒng)與大容量存儲(chǔ)器。其自動(dòng)記錄、點(diǎn)擊式接口加速并簡(jiǎn)化了獲取數(shù)據(jù)的過(guò)程,這樣用戶可以更快地開(kāi)始分析測(cè)試結(jié)果。
吉時(shí)利4200-SCS型半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng) 主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn):
·*的遠(yuǎn)端前置放大器,將SMU的分辨率擴(kuò)展至0.1fA
·用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
·集成了示波與脈沖測(cè)量功能的新型示波卡
·內(nèi)置PC提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測(cè)試結(jié)果的大容量存儲(chǔ)
·*的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面,根據(jù)器件的類型來(lái)安排測(cè)試,可以執(zhí)行多項(xiàng)測(cè)試并提供測(cè)試序列與循環(huán)控制功能
·內(nèi)置了Stress/Measure,循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能,通過(guò)鼠標(biāo)點(diǎn)擊方式就可進(jìn)行可靠性測(cè)試,包括5個(gè)JEDEC規(guī)范的樣品測(cè)試
·支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開(kāi)關(guān)矩陣與Agilent 81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備
·硬件由keithley交互式測(cè)試環(huán)境(KITE)來(lái)控制,用戶測(cè)試模塊功能,可用于外接儀表控制與測(cè)試平臺(tái)集成,是KITE功能的擴(kuò)充
·包括驅(qū)動(dòng)軟件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自動(dòng)和手動(dòng)探針臺(tái)
·支持*的半導(dǎo)體模型參數(shù)提取,包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso KEITHLEY4200-SCS 相關(guān)應(yīng)用:
半導(dǎo)體器件
·片上參數(shù)測(cè)試
·晶圓級(jí)可靠性
·封裝器件的特性分析
·使用Model4200-SCS控制外部LCR表進(jìn)行C-V、I-V特性分析
·高K柵電荷俘獲
·易受自加熱效應(yīng)影響的器件和材料的等溫測(cè)試
·電荷泵方法分析MOSFET器件的界面態(tài)密度
·電阻式或電容式MEMS驅(qū)動(dòng)特性分析
光電器件
·半導(dǎo)體激光二極管DC/CW特性分析
·收發(fā)模塊DC/CW特性分析
·PIN和APD特性分析
科技開(kāi)發(fā)
·碳納米管特性分析
·材料研究
·電化學(xué)
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