熊先生
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技術(shù) 可程式恒溫環(huán)境測試箱 可程式恒溫恒濕實驗箱
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可程式恒溫環(huán)境測試箱 主要為電子零部件、工業(yè)材料、成品在研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗各環(huán)節(jié)的試驗提供恒定濕熱,復雜高低溫交變等試驗環(huán)境和試驗條件,適用于電子電器、通訊、五金、橡膠、家具、玩具、航天、、石油、化工、汽車(摩托車)、船舶、科研等各行業(yè)和單位。 (.asLi..)
可程式恒溫環(huán)境測試規(guī)格參數(shù)
內(nèi)尺寸:1000*1000*1000mm(W*H*D)
溫度范圍:-40℃~+150℃(可選擇)
測試環(huán)境:環(huán)境溫度為+5~+28℃、相對濕度≤85%、試驗箱內(nèi)無試樣條件下。
測試方法:GB/T5170.2-2008溫度試驗設(shè)備GB/T5170.5-2008濕熱試驗設(shè)備
升溫時間:RT~+150℃/40min(3℃/min非線性空載)
降溫時間:RT~-40℃/60min(0.75~1℃/min非線性空載) (135473715035)
溫度波動度:≤0.2℃(注:如按GB/T5170.2-1996表示,波動度為≤±0.25℃)
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1.GB11158高溫試驗箱技術(shù)條件
2.GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
3.GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件
4.GB/T10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件
5.GB/T2423.1-2001低溫試驗箱試驗方法
6.GB/T2423.2-2001高溫試驗箱試驗方法
7.GB/T2423.3-93濕熱試驗箱試驗方法
8.GB/T2423.4-93交變濕熱試驗方法
9.GB/T2423.22-2001溫度變化試驗方法 ()
10.IEC60068-2-1.1990低溫試驗箱試驗方法
11.IEC60068-2-2.1974高溫試驗箱試驗方法
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