數(shù)字IC測試儀 集成電路測試儀 TD-ICT-33C

功能特征


TD-ICT-33C集成電路測試儀:


可測1300種器件.


可對器件好壞判別,型號判別,老化測試,


器件代換查詢,內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改,


EPROM、EEPROM器件讀出寫入.  數(shù)字IC測試儀 集成電路測試儀 TD-ICT-33C


功 能 參 數(shù)


主要功能


器件好壞判別：當(dāng)不知被測器件的好壞時，儀器可判斷其好壞。


器件型號判別：當(dāng)不知被測器件型號時，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號。


器件老化測試：當(dāng)懷疑被測器件的穩(wěn)定性時，儀器可對其進(jìn)行連續(xù)老化測試。


器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能*、引腳排列*的器件型號。


內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT?/FONT>33C可從鍵盤對自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。


EPROM、EEPROM器件讀入：ICT?/FONT>33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。


EPROM、EEPROM器件寫入：ICT?/FONT>33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中，并自動校驗。





可 測 器 件（1300多種）


CMOS40系列：103種。


CMOSMC140系列：103種。


CMOS45系列：60種。


CMOSMC145系列：60種。


光耦合器系列：133種。


TTL74/54系列：714種。


TTL75/55系列：82種。


數(shù)碼管系列：


0.5吋共陽[001]；共陰[002]；0.3吋共陽[003]；共陰[004]；0.7吋共陽[005]；共陰[006]。


常用RAM系列：


2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128


EEPROM系列：


2816 2817 2864 28256 28040 29101


EPROM系列：


2716 2732 2764 27128 27256 27512


微機(jī)外圍電路系列：


8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC（8O2）


常用單片機(jī)系列：


8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752


其他系列：


2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831 8832 3 446MC1413（2003） MC1416（2004） MC14160（40160） DG201 MC14161（40161） MC14162（40162） MC14163（40163） TIL308 MC14189（75189） 2902（324） 8T26（826） AD7506

電路板故障維修測試儀

新型的GT4040UXP-Ⅱ可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作，帶有USB接口，雙CPU工作，速度更快，效率更高。可測三端器件，另外有俄羅斯庫，西門子庫，可定量測試L，C，R參數(shù),,可對運算放大器，光耦，三端電源進(jìn)行測試。
。

產(chǎn)品特點：  
在維修各種電子設(shè)備時，您是否常因圖紙資料不全而束手無策？您是否常因高昂的維
修費用而增添煩惱？

[GT]系列檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利
用電腦來彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原
理的情況下，對各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測試，在線檢測元器件好壞，迅速檢
測到電路板上故障元器件。簡捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類型電路板。

產(chǎn)品特點：

◆*的測試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動能力，任何故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡單的中文操作界面，不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專家
◆無需電路原理圖，不必知道器件型號，對任何電路板皆可快速維修
◆40×2路數(shù)字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫；
◆40×2（ASA）V/I，曲線分析測試功能
◆電路板測試存儲功能，被測板可與之比較
◆與進(jìn)口同類儀器比較，性價比更優(yōu)，操作更方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測試。
◆本功能亦可通過學(xué)習(xí)記錄，比較分析來測試。

技術(shù)規(guī)格：
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作
雙CPU工作，速度更快，效率更高。
功能測試40×2通道
VI曲線測試40×2通道
雙測試夾VI曲線測試
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取
模擬器件 VI曲線測試
總線隔離信號
中文維修筆記

一、序言
GT/ICT系列測試儀已推出近十年。一方面漸入人心，一方面用戶也有了更高的要求。我公司集多年不懈努力，成功研制出換代產(chǎn)品GT/ICT-Ⅱ系

列，把GT/ICT測試儀發(fā)展到了一個新的階段，能夠更好的滿足用戶的實際需求。
從測試技術(shù)方面來看，GT/ICT測試儀是“后驅(qū)動"、“器件模擬端口分析（ASA）"測試技術(shù)的簡單使用，而GT/ICT-Ⅱ系列是在跟隨這兩項技

術(shù)在上的發(fā)展，在總結(jié)了多年來的實際應(yīng)用經(jīng)驗的基礎(chǔ)上重新設(shè)計而成，因而有更好的測試效果；從產(chǎn)品的軟、硬件實現(xiàn)技術(shù)方面來

看，GT/ICT軟件脫胎于DOS系統(tǒng)，主要由中小規(guī)模集成電路組成，而GT/ICT-Ⅱ系列*在Windows平臺上打造，大量采用了大規(guī)模EPLD、表面貼

裝器件等現(xiàn)代電路設(shè)計技術(shù)，因而具有更友好的人-機(jī)界面，更高的技術(shù)指標(biāo)和可靠性。  
全面提高技術(shù)水平的目的，是改進(jìn)、擴(kuò)充測試功能。為突出重點，首先在本文中介紹對兩個zui常用的測試功能：“ASA（VI）曲線測試"、“數(shù)

字器件在線功能測試"的改進(jìn)。（注意相同之處不再贅述，請參見GT/ICT測試儀的相關(guān)說明）。我們將在以后的文章中，介紹其它方面的改進(jìn)

。
需要說明的是，市場上的GT/ICT系列測試儀有幾個版本，總體水平差別不大，僅軟件界面形式略有不同。本文主要以其中一種作為參照。

二、對ASA（VI）曲線測試的改進(jìn)
2.1 大大擴(kuò)展了故障覆蓋范圍
這里擴(kuò)展范圍，是指GT/ICT測試儀不能測試，或測試效果不好，而GT/ICT-Ⅱ能夠測試，或測試效果有較大改進(jìn)。
2.1.1 測試三端器件
GT/ICT測試儀不能全面檢測三端器件的好壞。GT/ICT-Ⅱ*解決了這個問題。
三端器件是指閘流管（可控硅）、MOS三極管、電壓調(diào)節(jié)器等具有三個引出端，以及光藕、繼電器等可以等效成三個引出端的器件。下面以閘流

管（可控硅）為例，來說明GT/ICT-Ⅱ如何改進(jìn)了對此類元件的測試。
用GT/ICT測試閘流管，當(dāng)ASA（正弦）測試信號加在它的陽極和陰極之間時，控制端沒有信號，閘流管處于截止?fàn)顟B(tài)，所以從曲線上只能觀察到

截止?fàn)顟B(tài)是否正常（兩極之間是否短路、或有較大漏流），不能發(fā)現(xiàn)導(dǎo)通狀態(tài)是否正常。比如，會把陽極和陰極開路的故障誤判成截止?fàn)顟B(tài)正

常。
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計了一個脈沖信號，測試時加在閘流管的控制端，控制閘流管在ASA（正弦）測試信號期間出現(xiàn)導(dǎo)通、截止兩種狀態(tài)，實現(xiàn)了對閘

流管進(jìn)行全面的檢測。
例1：用GT/ICT-Ⅱ測出的*閘流管的曲線

圖中橫線是否足夠水平反映了截止?fàn)顟B(tài)是否夠好、豎線是否足夠垂直反映了導(dǎo)通阻抗是否足夠小、豎線與縱軸的間距就是導(dǎo)通電壓的大小。

（GT/ICT測試儀只能測出一根水平線。）
測試不同的三端器件需要不同的控制方式——正弦波和脈沖的匹配（同步）形式。為了更好地滿足測試各種三端器件的不同要求，在GT/ICT-Ⅱ

上共設(shè)置了八種匹配方式——脈沖相對于正弦波的起始、結(jié)束位置及寬度、高度均可調(diào)整；支持單向觸發(fā)、雙向觸發(fā)。詳細(xì)情況請參見產(chǎn)品使

用說明。
2.1.2 自動曲線靈敏度調(diào)整
GT/ICT測試儀沒有ASA曲線對電路變化（故障）的自動靈敏度調(diào)整功能，有些本該能夠檢測出來的故障因此不能發(fā)現(xiàn)。
我們來比較下面三組電阻的ASA曲線。

0.1K/0.15K 1K/1.5K 10K/15K
*組顯示了0.1K和0.15K電阻的VI曲線；第二組1K和1.5K；第三組10K和15K。盡管實際電路的相對變化大小*相同，但看上去中間兩條曲線

差別大，兩邊的要小得多。我們說，中間組的曲線靈敏度高，而兩邊組的靈敏度低。由于ASA測試是通過曲線位置差異大小來發(fā)現(xiàn)故障的，所以

，在故障測試中很可能只判斷中間組有問題。
可以證明，VI曲線的走向趨勢越接近45度，反映電路變化的靈敏程度越高；如果VI曲線是一個封閉圖形，曲線包圍的面積越大，靈敏度越高。
曲線的靈敏度與被測試點的特征和測試參數(shù)相關(guān)。依據(jù)具體的結(jié)點特征，調(diào)整測試參數(shù)，從而得到較高靈敏度的曲線，叫做調(diào)整VI曲線（關(guān)于

電路故障的）靈敏度。
GT/ICT-Ⅱ新增加了自動曲線靈敏度調(diào)整功能。對于上面三種情況，在選中自動靈敏度調(diào)整后，測到的三組曲線都和中間組一樣。
2.1.3 測試大電容
GT/ICT只能測試zui大約兩、三百微法的電解電容的好壞。GT/ICT-Ⅱ把檢測范圍擴(kuò)大到了兩萬微法以上。
排查電路板上容量較大的電解電容的漏電、容量變化導(dǎo)致的故障，是一件相當(dāng)令人頭痛的事情。對維修測試來說，利用ASA曲線測試進(jìn)行檢測可

能是的辦法。但是GT/ICT測試儀的測試范圍小，當(dāng)容量到幾百微法以上時，本該是一個橢圓的電容ASA曲線就蛻化成了一根短路線（所包圍

的面積趨于零），根本無法判別出好壞。GT/ICT-Ⅱ加寬了測試儀的技術(shù)指標(biāo)，對于高達(dá)兩萬多微法的電容，都能測出一個包圍了相當(dāng)面積的橢

圓。
2.1.4 給同一器件的不同管腳設(shè)置不同的測試參數(shù)
GT/ICT沒有這個功能，導(dǎo)致對有的器件測試效果差，有的器件無法測試。
用GT/ICT測試儀測試一個有多個管腳的器件的曲線，所有管腳都只能使用同樣的測試參數(shù)，所有管腳都要依次測試一遍。但實際檢測中，確實

存在不同管腳使用不同測試參數(shù)，來保證測試效果，也存在個別管腳不允許測試的情況。
比如，集電極開路器件7403的輸入是標(biāo)準(zhǔn)TTL電平，而輸出zui大耐壓可達(dá)32V，常用于驅(qū)動數(shù)碼管、繼電器等。測試這種器件，測試輸入、輸出

腳的信號幅度要分別設(shè)置：對輸入應(yīng)設(shè)在略大于5V；對于輸出應(yīng)設(shè)置在略大于負(fù)載電壓，小于32V之間（比如驅(qū)動12V數(shù)碼管時一般用15V），才

能達(dá)到全面檢測的目的。GT/ICT測試儀不能滿足這種使用要求。
還有，電路板上帶電池的存儲器里面有數(shù)據(jù)，在它的電源端、片選端不能加任何測試信號，否則會導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。GT/ICT測試儀不能測試這類

器件。
GT/ICT-Ⅱ測試儀考慮到了這些情況。允許分管腳設(shè)置測試參數(shù)，也允許不做測試的管腳。
2.2 大大提高了測試可靠性
測試可靠性是指測試結(jié)果能真實反映實際情況，不會導(dǎo)致用戶誤判故障的能力。
2.2.1 曲線穩(wěn)定性問題
GT/ICT測試儀不能發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定曲線，會把好電路誤判為有故障。
即使電路**，也存在這樣的情況——在同一個管腳上，每次測到的曲線有明顯不同。這種情況叫做該處的曲線不穩(wěn)定。產(chǎn)生不穩(wěn)定

曲線的原因以及如何讓曲線穩(wěn)定下來的辦法請參見“電路在線維修測試儀上的ASA測試"?！对O(shè)備管理與維修》2006.6,2006.7。但測試儀首先

要能夠把不穩(wěn)定曲線識別出來，然后才談得到處理，否則就可能把好電路誤判為有故障。
GT/ICT-Ⅱ能夠把不穩(wěn)定曲線識別出來，并且能具體指示出哪一個管腳上的曲線不穩(wěn)定，這無疑有助于提高測試結(jié)果的可靠性。
2.2.2 接觸問題
使用測試夾學(xué)習(xí)ASA曲線的時候，器件管腳氧化、防銹涂層未打磨干凈、測試夾引腳磨損等原因，經(jīng)常造成夾子引腳與器件引腳接觸不上，結(jié)果

學(xué)習(xí)到了一條虛假的開路曲線；比較曲線時也有同樣問題。這種不可靠的曲線會導(dǎo)致誤判，所以在實際使用中，一旦發(fā)現(xiàn)開路曲線，都要再次

確認(rèn)，比如打磨該引腳后重測。
問題在于使用測試夾測試時，一次測試要處理許多條曲線。曲線多了以后，往往不能在一屏上一起都顯示出來。象GT/ICT測試儀那樣，靠人工

從許多條曲線中確認(rèn)有無開路曲線，得來回翻屏或滾屏，不但效率低，而且容易漏檢。
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計了自動開路曲線偵測、提示功能。在一次測試到的所有曲線中，只要存在開路曲線，會給出多種提示信息。根據(jù)提示很容易找到

它在哪個管腳上，很難漏檢。
2.2.3 平均曲線
當(dāng)測試大量的相同對象（比如一批同樣的電路板或相同器件）時，使用從哪個好的電路板或器件上學(xué)習(xí)到的曲線作為參照標(biāo)準(zhǔn)為呢？
使用GT/ICT-Ⅱ測試儀，可以先學(xué)習(xí)幾個好的電路板或器件，得到多個文件，然后利用平均曲線功能，把這些文件中的曲線自動求平均后，再自

動生成一個新的曲線文件，作為以后的測試比較標(biāo)準(zhǔn)。該功能通常用于建立高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)曲線庫。
2.3 大大提高了使用效率
2.3.1 迅速發(fā)現(xiàn)并找到異常曲線（開路、不穩(wěn)定、比較超差）
用測試夾進(jìn)行測試時，一次會提取、顯示出多條曲線。如何才能迅速判定這些曲線中是否有異常曲線（開路、不穩(wěn)定、超差），并迅速找到異

常曲線呢？
使用GT/ICT，需要用戶把所有曲線逐一檢查一遍后進(jìn)行判斷。不但效率，而且容易漏判。為此，GT/ICT-Ⅱ增加了新的顯示手段。
1．前面已經(jīng)說明，GT/ICT-Ⅱ能夠自動檢測異常曲線。在一次測試中哪怕只有一條異常曲線，首先在屏幕上部顯著位置提示：有開路曲線或有

不穩(wěn)定曲線或比較超差，以引起用戶注意；  
2．在學(xué)習(xí)曲線時，增加了按先異常、后正常排列方式，將異常管腳曲線排列在其它管腳曲線的前面；  
3．在曲線比較時，增加了按曲線誤差大小順序排列的方式，自動將誤差較大的曲線排在前面（由于比較時主要關(guān)心超差曲線）；
4．打開管腳列表窗口，直接提示在管腳號的旁邊。
2.3.2 測試曲線
一次測試了多條管腳曲線后，可能對某個管腳曲線有疑問，或不太滿意。比如，有異常曲線，要進(jìn)行適當(dāng)處理（比如對開路曲線，打磨該管腳

）后重測；或者想修改某條曲線的設(shè)置參數(shù)后，再重測該條曲線，觀察其變化。使用GT/ICT-Ⅱ，在做完處理后，你只要用鼠標(biāo)雙擊某曲線，就

將僅僅測試這條曲線，其它曲線*不受影響。方便、快捷。
2.3.3 由管腳號查找曲線
當(dāng)一次測試的曲線較多，一屏顯示不下時，要來回翻屏或滾屏才能查看某個管腳的曲線，影響效率。GT/ICT-Ⅱ增加了直接從管腳號查找曲線的

功能。只要在腳號列表窗口中雙擊某腳號，就自動把該管腳的曲線移到屏幕顯示區(qū)，并用彩色框框起來。十分快捷。
2.3.4 聲音提示
雙探棒直接對照測試方式相當(dāng)常用。用GT/ICT進(jìn)行測試時，每測試一個引腳，要先低頭——把兩個探棒穩(wěn)定接觸在相應(yīng)被測管腳上，然后再抬

頭看屏幕——確認(rèn)對照結(jié)果，一上一下，有人開玩笑稱為“雞啄米"。當(dāng)處理的腳數(shù)多時，相當(dāng)辛苦且影響效率。
GT/ICT-Ⅱ上設(shè)置了聲音提示。只要比較不超差（這是大多數(shù)情況），計算機(jī)就發(fā)出“嗒嗒"的提示聲，類似于使用萬用表的BEEP擋，基本解決

了這個問題。
2.4 大大改善了人-機(jī)界面友好程度
2.4.1 三種曲線坐標(biāo)
GT/ICT只在電壓(V)-電流坐標(biāo)(I)上顯示器件的端口特征曲線，這也是通常把ASA測試叫做VI曲線測試的原因。但對有的測試結(jié)果，換一種坐標(biāo)

可能更容易理解曲線所反映的電路問題。這就好比解析幾何中有直角坐標(biāo)系、又有極坐標(biāo)系一樣。
GT/ICT-Ⅱ測試儀提供三種坐標(biāo)：電壓(V)-電流(I)坐標(biāo)、時間(T)-電壓(V)坐標(biāo)和電壓(V)-電阻(R)坐標(biāo)。下面給出*閘流管在兩種不同坐

標(biāo)下的曲線。

電壓(V)-電流(I)坐標(biāo) 時間(T)-電壓(V)坐標(biāo)
注意右邊的曲線。在測試（正弦）信號的四分之一處，控制極上的觸發(fā)信號使閘流管導(dǎo)通，曲線變成一段水平線。水平線距橫軸的距離就是閘

流管的飽和電壓。
2.4.2 在曲線上提示參數(shù)（Tooltips）
把鼠標(biāo)光標(biāo)放在曲線上，GT/ICT-Ⅱ利用Tooltips技術(shù)顯示出光標(biāo)處的參數(shù)。十分方便。請參見上圖。
2.4.3 管腳命名
GT/ICT在管腳曲線上提示的管腳號只是阿拉伯?dāng)?shù)，并且所有管腳只能按數(shù)字順序一維排列。這在有些時候極為不方便。
比如，有的器件管腳是兩維排列的。橫著數(shù)是a、b、c……，豎著數(shù)是1、2、3……。b3表示位于第二列，第三行的管腳；有的電路板外引腳有

上百個，對有的特別引腳會有專門標(biāo)識—常見的是標(biāo)識它上面的信號名稱。如果只能用一維數(shù)字作為管腳名，查找起來極為不便。
GT/ICT-Ⅱ既能夠自動對管腳按一維排列方式分配管腳序號，也允許用戶給管腳命名。序號和用戶命名同時提示在相應(yīng)曲線上。查找起來非常方

便。
2.4.4 自定義曲線顯示顏色
不同人對顏色有不同偏好。長期工作在不舒服的顏色下易于疲勞。GT/ICT-Ⅱ允許用戶修改曲線、坐標(biāo)、字符、背景等的顏色設(shè)置。為自己營造

一個較為舒服的工作環(huán)境。

三、對數(shù)字器件在線功能測試的改進(jìn)
數(shù)字器件在線功能測試，是指對電路板上的器件直接進(jìn)行邏輯功能好壞的檢測。對這項功能的改進(jìn)主要包括三個方面：
1．加強(qiáng)對測試條件的檢查能力；
2．加強(qiáng)用戶對測試過程的控制；
3．加強(qiáng)對被測試器件的在線工作環(huán)境的識別能力。
通過上述改進(jìn)，有效提高了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

3.1對測試條件檢查能力的加強(qiáng)
3.1.1 接觸檢查
測試夾與被測器件接觸不好可能會造成錯誤測試結(jié)果。GT/ICT-Ⅱ在檢查到測試夾引腳對地電阻大于約1M歐時，會提示接觸不良（開路）。
不過提示開路不一定總有接觸問題。比如使用在線測試功能，測試處于離線狀態(tài)的CMOS器件時，由于這種器件的輸入阻抗很高，所有輸入腳都

會判成開路。
實用中如果測試失敗并且提示有開路狀態(tài)，應(yīng)確認(rèn)是否屬于正常情況。如果測試成功，一般可忽略。
3.1.2 電源電壓檢查
這項測試要求必須給被測電路板加電。TTL器件的標(biāo)稱工作電壓是5V±5%。電源電壓不達(dá)標(biāo)有可能導(dǎo)致器件工作不正常。GT/ICT-Ⅱ在測試前會

自動檢查器件上的電壓是否達(dá)標(biāo)。當(dāng)電源電壓超*，將給出警告提示；
3.1.3 非法電平檢查
本測試儀僅支持5V的TTL、CMOS器件的測試。正常情況下器件所有管腳上的電平值總在大于0V，小于5V之間。但對一個有故障的電路板來說，什

么情況都有可能發(fā)生。GT/ICT-Ⅱ在測試時一旦檢測到器件上有超過電壓區(qū)間20%的電平值，將立即給以提示。為了安全起見，不再繼續(xù)測試下

去。
3.2對用戶控制測試過程的加強(qiáng)
3.2.1 調(diào)整閾值電平
當(dāng)TTL器件的輸出低于0.8V，說它輸出為低（電平）；高于2.4V，說它輸出為高（電平）。這里的0.8V，2.4V就是TTL的低、高標(biāo)準(zhǔn)閾值電平。

大致上說，器件的高電平越高，低電平越低越好。GT/ICT的閾值電平是做死的，不能調(diào)整。GT/ICT-Ⅱ從硬件上進(jìn)行了擴(kuò)充，允許用戶修改閾值

電平。比如，允許設(shè)為0.5V，3.0V進(jìn)行測試。
這是一項很有價值的改進(jìn)。實用經(jīng)驗表明，使用在線維修測試儀測試一個真正好的TTL數(shù)字器件，它的高電平會遠(yuǎn)高于標(biāo)準(zhǔn)高閾值2.4V，低電平

比標(biāo)準(zhǔn)低閾值0.8V低很多。究其原因，可能是在線維修測試儀的測試速度比器件的實際工作速度低很多，分布參數(shù)造成的負(fù)載輕很多；反之，

如果測試到一個器件的高、低電平很接近標(biāo)準(zhǔn)閾值，這往往表示該器件的驅(qū)動能力已明顯下降，雖然能通過測試，但不能保證上機(jī)正常工作，

換掉。
3.2.2 修改測試頻率
GT/ICT-Ⅱ的測試頻率分4檔可選：45Ktv/S，20Ktv/S，5Ktv/S，1 Ktv/S（Ktv/S=千條測試向量/每秒）。缺省值為20Ktv/S。實際測試時，可根

據(jù)具體情況選用。比如74HC類低功耗器件，測試失敗后可降低速度再試一次。
3.2.3 加電延遲時間
在進(jìn)行測試時，GT/ICT-Ⅱ自動控制給電路板加電——測試一個器件的瞬間接通電源，測試完成后關(guān)斷。這樣的好處是避免用戶誤操作損壞電路

扳，帶來的問題是由于電路板上一般有較大電源濾波電容，加電后，電路板上的電源電壓是逐步上升的，需要延遲一段時間后才能達(dá)到預(yù)期值

。不同大小的電路板需要的延遲時間不同。所以GT/ICT-Ⅱ允許用戶設(shè)定接通電源延遲多長時間后開始測試。
3.3對器件在線工作環(huán)境識別能力的加強(qiáng)  
測試電路板上的器件時必須使用適當(dāng)?shù)母綦x技術(shù)來消除關(guān)聯(lián)器件對被測試器件的影響。后驅(qū)動隔離技術(shù)專門用于數(shù)字器件的在線測試隔離。
后驅(qū)動技術(shù)有一定的使用條件，不滿足這些條件就會由于隔離不成功而測試失敗，把好器件測成壞器件。對在線器件工作環(huán)境的識別，就是盡

量把影響后驅(qū)動技術(shù)正確使用的情況檢查出來，避免誤判。
3.3.1后驅(qū)動技術(shù)原理及應(yīng)用中的問題
后驅(qū)動技術(shù)是美國人在上世紀(jì)60年代發(fā)明的。可簡單說明如下：
電路結(jié)點一般由器件的一個輸出和若干個輸入組成。參見圖一。設(shè)測試U3，就要在U3各輸入腳所在的電路結(jié)點上施加測試信號。由于決定結(jié)點

電位的是器件輸出而不是輸入，參見圖中的X結(jié)點，在該結(jié)點上加信號實質(zhì)上是如何驅(qū)動U1的、與X引腳關(guān)聯(lián)的輸出，使它能夠根據(jù)測試要求為

高或為低。U3的輸出可以直接取回來。
假定X結(jié)點當(dāng)前狀態(tài)為低電平，怎樣把它驅(qū)動至高電平呢？參見圖二給出的TTL器件的典型輸出結(jié)構(gòu)。

輸出低電平時，Q1截止，Q2飽合，這個低電平就是Q2的飽合壓降，約在0.3V以下。Q2的飽和條件為：β2*Ib2>>Ic2。通過測試儀給Q2的集電極

注入一個足夠大的電流，使Ic2變得很大，Q2脫離飽合，它的輸出就會升起來。問題在于Q2上的功耗：P=Ic2*Vce2 會隨Ic2、Vce2的增加迅速增

加到P > Pcm（zui大額定功耗）。這是否會損壞Q2呢？后驅(qū)動技術(shù)證明，只要驅(qū)動時間不超過26毫秒，不會有問題。在發(fā)達(dá)，滿足這個時間

要求的在線測試儀器允許用于設(shè)備。
對于輸出為高而要驅(qū)動為低的情況，分析方法相同，只是把向Q2集電極灌電流改為從Q1發(fā)射極拉電流。
從以上對后驅(qū)動技術(shù)的說明可以看出：
1．后驅(qū)動技術(shù)用于隔離數(shù)字器件之間的關(guān)聯(lián)對測試的影響；
2．假定一個電路結(jié)點由一個輸出多個輸入組成；
3．被測試器件上不能有其它邏輯信號；
4．不能處理異步時序電路。
然而在實際電路板上，確實存在著數(shù)字器件和非數(shù)字器件關(guān)聯(lián)（比如數(shù)字器件輸出驅(qū)動晶體管基極、運放驅(qū)動數(shù)字器件輸入）、一個電路結(jié)點

上有不止一個數(shù)字器件輸出（比如數(shù)據(jù)總線）、被測器件上有其它邏輯信號（比如板上有晶振）等等。這些情況經(jīng)常會影響后驅(qū)動技術(shù)的正確

使用（一般稱作隔離不開），會導(dǎo)致不正確的測試結(jié)果。
3.3.2 對和非數(shù)字器件相關(guān)聯(lián)的處理
這種情況造成隔離失敗的原因，主要是結(jié)點電位被非數(shù)字器件鉗死，或者驅(qū)動信號被非數(shù)字器件吸收，加不上去（也相當(dāng)于電平被鉗位）。下

圖中給出了兩種常見的結(jié)構(gòu)。

GT/ICT-Ⅱ能把這些情況識別出來，以管腳狀態(tài)的形式提示給用戶，當(dāng)器件測試失敗后，供用戶進(jìn)一步分析。GT/ICT-Ⅱ能夠識別出6種與此相關(guān)

的管腳狀態(tài)：
電 源：恒高且為電源腳；
恒 高：不可驅(qū)動至低于高閾值；
不可高：不可驅(qū)動至高于高閾值；
不可低：不可驅(qū)動至低于低閾值；
恒 低：不可驅(qū)動至高于低閾值；
地 ：恒低且為地腳。
3.3.3 對多輸出結(jié)點的處理
對多輸出結(jié)點通常要用總線競爭屏蔽信號（GUARD信號）去解除非被測試器件的輸出對被測器件輸出的影響。有的版本的GT/ICT測試儀沒有

GUARD信號、有的版本只有1、2個GUARD信號—－這在許多情況下不夠用；有的版本的GUARD信號不可控，僅是通過一個小電阻接到電源上——這

不符合后驅(qū)動技術(shù)的要求，會損壞被屏蔽器件。（詳細(xì)說明請參閱有關(guān)文章）
GT/ICT-Ⅱ設(shè)置了8個*后驅(qū)動技術(shù)的要求GUARD信號，并且用戶可控。
3.3.4 對板上有邏輯信號的處理
電路板上的邏輯信號可能干擾正確測試。GT/ICT-Ⅱ在測試前會進(jìn)行檢查。如果在被測器件的管腳上發(fā)現(xiàn)有邏輯信號，會作為一種管腳狀態(tài)“有

翻轉(zhuǎn)"提示出來。由于這種情況可能影響、也可能不影響測試結(jié)果，所以當(dāng)測試成功后，可忽略；當(dāng)測試失敗時，才需要用戶處理。
3.3.5輸入浮動
管腳狀態(tài)“輸入浮動"一般情況下是該管腳懸空。除非該管腳直接與電路板的插腳相連，否則意味著該腳斷線。盡管這并不影響對該器件的測

試，但它反映了電路板上一個可能的故障，所以也作為一種管腳狀態(tài)提示出來。
3.4 提高測試準(zhǔn)確性的一般方法
從以上討論可以看出，受測試條件、器件工作環(huán)境的影響，在線測試的結(jié)果有一定的不確定性。從進(jìn)口測試儀產(chǎn)品來看，主要通過兩種辦法來

提高測試的準(zhǔn)確性：
1．加強(qiáng)對影響測試結(jié)果的外部因素的識別能力。在測試儀產(chǎn)品上的具體體現(xiàn)，就是高檔的測試儀能識別的管腳狀態(tài)種類多，低檔的能識別的狀

態(tài)少。比如某進(jìn)口測試儀能識別約15種、GT/ICT-Ⅱ能識別約11種、GT/ICT大約僅4、5種。
2．由于在線測試的不確定性，把整個測試過程盡量詳細(xì)的顯示出來，供用戶結(jié)合測試結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步分析，這幾乎可以說是在線測試的基本設(shè)

計原則之一。GT/ICT-Ⅱ比較好的貫徹了這個原則。遺憾的是某些國產(chǎn)測試儀的設(shè)計者沒有真正理解這一點，有些測試功能僅給出“測試通過"

、或“測試失敗"的提示，測試過程幾乎沒有提示。

四、結(jié)語
電路在線維修測試儀所依據(jù)的技術(shù)原理并不復(fù)雜，但是依據(jù)同樣這些技術(shù)做出的測試儀產(chǎn)品卻是千差萬別，而且許多差別，是在你比較深入的

了解了這項技術(shù)，有了相當(dāng)?shù)氖褂媒?jīng)歷后才能體會得到。希望本文能對進(jìn)一步了解這種產(chǎn)品提供幫助。

產(chǎn)品名稱：垂直振蕩器振蕩器 產(chǎn)品型號：HVS-06

垂直振蕩器振蕩器型號：HVS-06

儀器介紹  
HVS系列垂直振蕩器振蕩頻率，振蕩時間可調(diào)，樣品支架可以適合多種 規(guī)格的分液漏斗，多可以同時處理8個樣品，能大幅度提高工作效率，減輕工作強(qiáng)度。產(chǎn)品使用靈活，操作方便，滿足多種場合的應(yīng)用。  
HVS系列垂直振蕩器振蕩頻率利用振動幅度大，速度快之優(yōu)勢達(dá)到了液液萃取式混合的目的。既保證了樣品處理的*性，又大大降低了檢驗員的勞動強(qiáng)度。  
主要特點  
1.運行平穩(wěn)，低噪音。  
2. 樣品托架可以自由滑動，安放或取下樣品簡單方便。  
3. 振蕩速度和運行時間用液晶屏顯示，直觀簡潔。  
4. 振蕩速度為無極速度，啟動和變速都有緩沖功能，減少對樣品容器的沖擊。  
技術(shù)參數(shù)
名稱HVS-6
轉(zhuǎn)速40～300r/min
振幅40mm
功率300W
外形尺寸560x440x520（LxWxH）
重量52kg