粟顯全
目錄:東莞市正臺測試儀器有限公司>>低溫箱>>低溫試驗箱>> ZT-CTH-800BZT低溫測試倉
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 額定電壓 | 220V |
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加工定制 | 是 | 適用領域 | 科研 |
外形尺寸 | W寬700XH高1550XD深1300mm | 溫度波動度 | 0.5℃ |
溫度范圍 | 常溫RT~-70℃ | 溫度均勻度 | 1.0% |
重量 | 230kg |
ZT低溫測試倉適用范圍:
國防工業(yè),航天工業(yè)自動化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品
業(yè),制藥工業(yè)及相關產(chǎn)品之耐寒、耐干性能及研發(fā),質(zhì)量管理工程之試驗規(guī)范。
ZT低溫測試倉滿足標準:GB/T2423.1~2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗。A:
低溫試驗方法》.
執(zhí)行與滿足標準:
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件;
2.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;
3.GB2423.1低溫試驗、試驗A
4.GB/T2423.34-2005低、溫度循環(huán)試驗。
規(guī)格型號及技術參數(shù):
ZT-CTH-80B, ZT-CTH-120B
ZT-CTH-150B, ZT-CTH-225B
ZT-CTH-306B, ZT-CTH-408B
ZT-CTH-800B, ZT-CTH-1000B
1.溫度范圍 :常溫RT~0℃/-20℃/-40℃/-50℃/-60℃/-70℃/-86℃。
2.控制穩(wěn)定度 :±0.5℃
3.分布均勻度 :±1.0℃
4.溫度偏差: ≤±2℃
5.正常降溫時間: +20~0℃小于20分鐘
+20~-20℃小于45分鐘
+20~-40℃小于60分鐘
+20~-50℃小于70分鐘
+20~-60℃小于75分鐘
+20~-70℃小于80分鐘
+20~-86℃小于100分鐘
工作內(nèi)尺寸:
ZT-CTH-50B W寬35XH高40XD深35cm
ZT-CTH-80B W寬40XH高50XD深40cm
ZT-CTH-120B W寬50XH高60XD深40cm
ZT-CTH-150B W寬50XH高60XD深50cm
ZT-CTH-225B W寬60XH高75XD深50cm
ZT-CTH-306B W寬60XH高85XD深60cm
ZT-CTH-408B W寬60XH高85XD深80cm
ZT-CTH-800B W寬100XH高100XD深80cm
ZT-CTH-1000B W寬100XH高100XD深100cm
控制器:
采用加拿大“RUERSI”進口微電腦液晶顯示薄膜按鍵型,英文表示溫度可程控器,具
10組程序100段次記憶,每段 99Hour59Min,每段可循環(huán)999次,可任意分割設定,并附多
組PID控制功能。