當(dāng)前位置:湖北高天試驗(yàn)設(shè)備有限公司>>環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備>>冷熱沖擊試驗(yàn)箱>> GT-TC-64高低溫迅速轉(zhuǎn)換試驗(yàn)機(jī) 冷熱沖擊試驗(yàn)箱
高低溫迅速轉(zhuǎn)換試驗(yàn)機(jī) 冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它的理想測(cè)試工具.
滿足以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)
技術(shù)參數(shù):
性能:風(fēng)冷式在室溫+25℃,空載時(shí).GT-TC-64
1.試驗(yàn)槽溫度使用范圍:-60℃-- +150℃.
2.高溫槽溫度設(shè)定范圍:+60℃-- +200℃.
3.高溫槽升溫時(shí)間RT(室溫)-- +150℃約需40min(室溫在+10-- +30℃時(shí)).
4.低溫槽溫度設(shè)定范圍:-55℃-- -10℃.
5.低溫槽降溫時(shí)間RT(室溫)-- - 50℃約需55min(室溫在+10-- +30℃時(shí)).
6.溫度波動(dòng)度:±1.0℃.
7.溫度均勻度:±2.0℃.
8.沖擊歸復(fù)時(shí)間:-50-- +150℃ 約需 5min.
高低溫沖擊恒溫時(shí)間各為30min以上
結(jié)構(gòu):
1.內(nèi)部尺寸: W40×H40×D40㎝.
2.外部尺寸約: W170×H180×D200㎝.
3.內(nèi)箱材質(zhì): 紗紋不銹鋼板(SUS#304).
4.外箱材質(zhì):.霧面拉絲不銹鋼板(SUS#304)
5.保溫材質(zhì): a.高溫槽:硅酸鋁保溫棉.
b.低溫槽:高密度PU發(fā)泡.
6.箱門:上、下箱單片門,左開.
a.嵌入式平面把手.
b.后鈕:SUS#304.
c.硅膠發(fā)泡膠條.
7.試料置放架: a.吊籃尺寸:W350 x D350㎜.
b.吊籃承重不大于5KG.
c.不銹鋼SUS#304網(wǎng)狀吊籃置物盤2片.
加熱系統(tǒng):鰭片式散熱管形不銹鋼電熱器.
1.高溫槽 8 KW.
2.低溫槽 5 KW.
高低溫迅速轉(zhuǎn)換試驗(yàn)機(jī) 冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)
1、200(60)℃~(-10)-65℃測(cè)試范圍
2、冷熱沖擊溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間在8秒鐘以內(nèi),恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)
3、待測(cè)品靜止自動(dòng)引導(dǎo)預(yù)冷區(qū)、室溫、預(yù)熱區(qū)溫度沖擊
使用前注意事項(xiàng):
機(jī)器若有劇烈移動(dòng)時(shí),請(qǐng)勿直接開機(jī),應(yīng)于移動(dòng)后,靜放兩小時(shí)左右再行開機(jī)。
電源線及接地線之確認(rèn):
電源線是否依照規(guī)格妥善連接, 并確認(rèn)接地?
機(jī)體及外殼有無損傷?
運(yùn)風(fēng)馬達(dá)有無堵轉(zhuǎn)?
吊攔有無卡死?