產(chǎn)地 |
國(guó)產(chǎn) |
加工定制 |
是 |
適用領(lǐng)域 |
其他 |
測(cè)試參數(shù)? |
C,?L,?R,Z,Y,X,B,?G,?D,?Q,?θ,DCR? |
測(cè)試頻率? |
20?Hz~2MHz,10mHz步進(jìn)? |
測(cè)試信號(hào)電? |
10mV~5V,±(10%+10mV)? |
輸出阻抗? |
10Ω,?30Ω,?50Ω,?100Ω? |
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀器主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測(cè)量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量( Cx)
GCSTD-D 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀器
滿足標(biāo)準(zhǔn):
GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容
率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)
的測(cè)試方法
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀器試驗(yàn)方法:
接觸法:適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料
非接觸法:適用于上下表面不平整、不光滑材料
電極類(lèi)型:固定電極-測(cè)量電極φ38mm/φ50mm(標(biāo)配電極1套,標(biāo)配為38mm)
液體電極-液體容量15ml
粉體電極-根據(jù)樣品量可配專(zhuān)用電極
試樣類(lèi)型:固體、液體、粉體、膏體/規(guī)則物或者不規(guī)則物
性能特點(diǎn):
測(cè)試頻率20H2~2MHz,10mHz步進(jìn)
測(cè)試電平10mV~5V,1mV步進(jìn)
基本準(zhǔn)確度0.1%
最高達(dá)200次/s的測(cè)量速度
320x240點(diǎn)陣大型圖形LCD顯示
五位讀數(shù)分辨率
可測(cè)量22種阻抗參數(shù)組合
四種信號(hào)源輸出阻抗
10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能
內(nèi)部自帶直流偏置源
外置偏流源至40A(配置兩臺(tái)TH1776)(選件)
電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整(ALC)功能
V、1測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
圖形掃描分析功能
20組內(nèi)部?jī)x器設(shè)定可供儲(chǔ)存/讀取
內(nèi)建比較器,10檔分選及計(jì)數(shù)功能
多種通訊接口方便用戶聯(lián)機(jī)使用
2m/4m測(cè)試電纜擴(kuò)展(選件)
中英文可選操作界面
可通過(guò)USB HOST 自動(dòng)升級(jí)儀器工作程序
測(cè)試材料:
無(wú)源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件
等的陽(yáng)抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。
半導(dǎo)體元件:變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
其它元件:印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估
介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估
磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估
半導(dǎo)體材料:半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
液晶材料:液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性