產(chǎn)地 |
國產(chǎn) |
加工定制 |
是 |
執(zhí)行質(zhì)量標準 |
國標 |
測試參數(shù) |
C,?L,?R,Z,Y,X,B,?G,?D,?Q,?θ,DCR? |
測試頻率 |
20Hz~2MHz.10mHz步進? |
測試信號電 |
f≤1MHz?10mV~5V,±(10%+10mV)? |
輸出阻抗? |
10Ω,30Ω,50Ω,100Ω |
基本準確度 |
0.1%? |
顯示范圍 |
Y,B,G?0.0001nS~99.999S? |
快速 |
200次/s(f |
慢速 |
5次/s |
校準功能 |
開路/短路點頻、掃頻清零,負載校準? |
等效方式 |
串聯(lián)方式,并聯(lián)方式 |
量程方式 |
自動,保持? |
顯示方式 |
直讀,Δ.0% |
觸發(fā)方式 |
內(nèi)部,手動,外部,總線? |
比較器功能 |
10檔分選及計數(shù)功能 |
顯示器 |
320x240點陣圖形LCD顯示? |
存儲器 |
可保存20組儀器設(shè)定值 |
陶瓷高低頻介電常數(shù)測試儀滿足標準:
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法
顯示方式 直讀, Δ, Δ%
觸發(fā)方式 內(nèi)部, 手動, 外部, 總線
內(nèi)部直流偏 電壓模式 -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
置源 電流模式(內(nèi)阻為50Ω) -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
比較器功能 10檔分選及計數(shù)功能
顯示器 320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器 可保存20組儀器設(shè)定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
品質(zhì):對產(chǎn)品的精益追求+嚴格規(guī)范的測試
價格:科學的管理成本+高效率合作降低成本
客戶:大中院校+科研機構(gòu)+質(zhì)檢部門+實驗室等
價值:為客戶提供好的產(chǎn)品+好的服務
理念:天的質(zhì)量就是明天的市場
公司所供產(chǎn)品均按照標準化研發(fā) 、嚴格測試并檢驗合格后才出廠的,質(zhì)量和服務優(yōu)質(zhì),質(zhì)優(yōu)價廉。
公司真誠歡迎全國朋友來電來函洽談業(yè)務??!并預祝合作愉快??!可根據(jù)客戶的不同需求開發(fā)標準、非標準設(shè)備
源于精測 精品搖籃 之選 自強不息 厚德載物 厚積薄發(fā) 高速增長
陶瓷高低頻介電常數(shù)測試儀
測試材料:
無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件
等的陽抗參數(shù)評估和性能分析。
半導體元件:變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料:半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性
陶瓷高低頻介電常數(shù)測試儀