深圳真尚有科技有限公司
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所 在 地深圳市
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更新時間：2023-11-01 11:22:00瀏覽次數(shù)：109次
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AE0X微米級光柵尺尺設計用于測量和檢查工程物體的位移、尺寸、跳動、表面輪廓和變形。主要特點：◇ 0.1 µm 分辨率◇ ±2 µm 精度◇ 測量范圍從 3 到 55 mm◇ 可應用范圍廣，對被測物本身無限制（低反射率、鏡面、透明……都不影響）◇ 測量的創(chuàng)新技術◇ 增量編碼器信號的仿真
AE0X微米級光柵尺特點：
（1）、0.1 µm 分辨率
（2）、±2 µm 精度
（3）、測量范圍從 3 到 55 mm
（4）、可應用范圍廣，對被測物本身無限制（低反射率、鏡面、透明……都不影響）
（5）、測量的創(chuàng)新技術
（6）、增量編碼器信號的仿真
AE0X微米級光柵尺應用領域：
AE0X微米級光柵尺技術規(guī)格：
AE0X微米級光柵尺測量原理：
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