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所 在 地深圳市
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更新時間:2023-04-27 07:56:52瀏覽次數(shù):237次
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DETF20膜厚測量儀通用的膜厚測量儀器,在成千上萬的應(yīng)用中得到使用。厚度和折射率可以在不到一秒的時間內(nèi)測量到。與我們所有的厚度測量儀器一樣,DETF20連接到計算機的USB端口并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置。不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,DETF20膜厚測量儀都可以滿足需求。
可測薄膜多種參數(shù);
設(shè)備數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果;
嵌入式在線診斷
可適用與測量半導(dǎo)體薄膜、光刻膠、工藝薄膜、玻璃厚度
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