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電子組件振動(dòng)試驗(yàn)法

時(shí)間：2010/7/1閱讀：733
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Vibration Testing Procedures for Electronic Components
1、適用范圍：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用以測(cè)定電子組件（以下簡(jiǎn)稱組件）于運(yùn)輸或使用中承受振動(dòng)之耐久性能之試驗(yàn)方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。
  注：試驗(yàn)方法Ⅰ適用于測(cè)定對(duì)一般振動(dòng)之耐久性，試驗(yàn)方法Ⅱ適用于測(cè)定共振點(diǎn)及試驗(yàn)方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點(diǎn)之偏距，試驗(yàn)方法Ⅲ適用于測(cè)定在共振點(diǎn)之耐久性。
2、裝置：振動(dòng)裝置應(yīng)能作表中所示各種試驗(yàn)且符合下列條件。
（1）振動(dòng)波形及失真率：施加于供試品之振動(dòng)波形為正弦波，供試品安裝位置之振動(dòng)加速度波形之備波含有率應(yīng)為25%以下。
（2）振動(dòng)振幅：規(guī)定振動(dòng)方向之振幅容許差，須為規(guī)定值之±15%以內(nèi)。
（3）與規(guī)定振動(dòng)方向垂直之振動(dòng)：于供試品安裝位置，與規(guī)定振動(dòng)方向垂直之振動(dòng)，不論任何方向，其振幅應(yīng)為規(guī)定方向之25%以下。
（4）振動(dòng)頻率容許差：50Hz以下就為±1Hz，超過50Hz時(shí)應(yīng)為±2%。
（5）掃描（1）方法：原則是為對(duì)數(shù)掃描，但平均掃描亦可。
                   注：（1）1次掃描，例如10—55——10Hz，是指在規(guī)定振動(dòng)頻率范圍作1次往復(fù)之頻率變化。
3、準(zhǔn)備
3．1 供試品之安裝：將供試品依組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方法，直接或使用夾具堅(jiān)固地安裝于振動(dòng)臺(tái)上。使用夾具時(shí)，須能施加振動(dòng)于組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方向，且夾具應(yīng)具足夠機(jī)械強(qiáng)度，安裝后亦不得松動(dòng)或發(fā)生共振，組件標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定下列任一種安裝方法。
                  （1）固定組件本體（有導(dǎo)線之組件，亦同時(shí)固定導(dǎo)線）。
                  （2）僅固定導(dǎo)線。
4、試驗(yàn)
4．1 前處理：原則上不作前處理。但有特別需要時(shí)，依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定。
4．2 初期測(cè)定：依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定施行，檢查外觀。
4．3 試驗(yàn)方法：依下列各項(xiàng)施行。如裝置產(chǎn)生磁導(dǎo)且供試品易受磁場(chǎng)影響時(shí)，于組件中應(yīng)規(guī)定其大允許值。
                   4．3．1 試驗(yàn)方法種類：試驗(yàn)方法分為Ⅰ（掃描耐久試驗(yàn)）、Ⅱ（共振點(diǎn)偏移檢出試驗(yàn)）及Ⅲ（共振點(diǎn)耐久試驗(yàn)）三種。
                                   （1）試驗(yàn)方法Ⅰ（掃描耐久試驗(yàn)）：依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定，照下表施行（參照?qǐng)D）。
                                            振動(dòng)原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗(yàn)時(shí)間各方向均相同，合計(jì)6小時(shí)。
                                                                                                  表

       振動(dòng)種類
試驗(yàn)條件
種類A
種類B
種類C
振動(dòng)頻率范圍
10～55Hz
100～500Hz
10～2000Hz
全振幅或加速度
1．5mm
1．5mm或98m/s2（10G）中較小者
1．5mm或196m/s2（20G）中較小者
掃描之比例
10-55-10Hz
約1分鐘
10-500-10Hz約15分鐘
10-2000-10Hz約20分鐘
掃描方法
對(duì)數(shù)掃描或平均掃描
試驗(yàn)時(shí)間
6小時(shí)

   （2）試驗(yàn)方法Ⅱ（共振點(diǎn)偏移檢出試驗(yàn)）：本試驗(yàn)是于4．3．1（1）及4．3．1（3）試驗(yàn)前后施行，以檢出供試品這共振頻率。檢出共振時(shí)之振幅與掃描耐久試驗(yàn)相同。但如由于減小振幅更能檢出振動(dòng)特性。可減小振幅。
 

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