【三綜合試驗箱 特點用途】

綜合環(huán)境試驗系統(tǒng)主要氣候箱和振動試驗臺的綜合，對試件施加溫度、濕度、振動應(yīng)力進(jìn)行綜合環(huán)境試驗與可靠性試驗。與單一因素作用相比，更真實地反映電工電子產(chǎn)品在運輸和實際使用過程中對環(huán)境變化的適應(yīng)度，產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制，樣機(jī)試驗到產(chǎn)品合格鑒定試驗全過程的重要試驗手段。系統(tǒng)能夠產(chǎn)生溫度、濕度、振動的綜合環(huán)境，也可以產(chǎn)生單獨的溫度、濕度振動等環(huán)境。

【三綜合試驗箱臺體技術(shù)參數(shù)】

☆ 激振力: 正弦3000N; 隨機(jī)2400N

☆ 頻率范圍: 5Hz ~ 4000Hz可做定頻、往返掃頻、正弦波、隨機(jī)波.

☆ 掃頻時間: 定頻/單次掃頻為1-3600min,并可顯示各種掃頻曲線.

☆大加速度: 1000m/s2（ 100個G，空載）

☆ 大速度: 1.6m/s

☆掃頻方式: 線性、對數(shù)、正反掃、定頻.

☆ 掃頻次數(shù): 1-32767次.

☆ 振動方向: 垂直 +水平

☆ 振動波形:正弦波、隨機(jī)波、可在屏幕上觀察控制譜形、波形及信號動態(tài)范圍

☆消耗功率 : 15KVA

☆DA-3功率放大器:15KVA ,  尺寸:W60×H170×L8CM

☆ 大位移:25mmp-p（空載.）雙峰值。

☆ 振動部件有效質(zhì)量: 動圈重量3.0kg

☆ 大空載:120kg

☆振動機(jī)臺體尺寸:W75×H82×L89CM

【三綜合試驗箱優(yōu)點】

☆ 雙用途設(shè)備，投資回報率高

☆ 具有靈活性，可以和現(xiàn)有的振動試驗臺一起使用

☆ 可以模擬多三種測試環(huán)境

☆ 溫變速率更快

【三綜合試驗箱 特點】

☆ 振動臺隔板接口

☆ CSZ EZT-570i觸摸控制器

☆ 以太網(wǎng)監(jiān)測&控制

☆ RS-232，RS-485串行通信接口

☆ 無霧觀察窗&內(nèi)部照明燈

【三綜合試驗箱相關(guān)信息】

☆ 帶有隔板接口，可以和振動臺連接

☆ 見完整的選件列表

☆ 選擇試驗箱時的注意事項

☆ 定制振動測試服務(wù)

☆ 無霧觀察窗和內(nèi)部照明燈便于清晰觀察產(chǎn)品

☆ 試驗箱端口和樣品架采用全焊接方式，消除了潛在的泄漏問題，延長了設(shè)備使用壽命

☆ CSZ EZT-570i觸摸控制器帶有7"或10"觸摸屏，采用環(huán)境試驗箱操作編程的新技術(shù)，操作簡便。帶有數(shù)據(jù)記錄，以太網(wǎng)控制&監(jiān)測，數(shù)據(jù)備份功能，可以通過USB存儲器或計算機(jī)訪問數(shù)據(jù)文件，通過電子郵件或短信息發(fā)送報警通知，完善的系統(tǒng)安全保護(hù)功能，提供在線和多語言語音幫助

☆ 具有產(chǎn)品高低溫超溫保護(hù)和報警功能，可以保護(hù)被測樣品

☆ 試驗箱內(nèi)層采用304磨光不銹鋼材料，易于清潔。接縫采用*焊接方式，密封性好，防止潮氣進(jìn)入試驗箱

☆ RS-232/485串行通信接口，以太網(wǎng)控制&監(jiān)測（通信選件可選）

☆ 使用EZ-View 軟件選件可以同時監(jiān)測&控制20多臺試驗箱，無地點限制

☆ 試驗箱外壁采用壓型鋼板，結(jié)構(gòu)強(qiáng)度更大，采用耐久粉末/聚氨酯噴涂工藝（也可以噴涂用戶的涂層）

【三綜合試驗箱制冷系統(tǒng)】

☆ 壓力表可連續(xù)監(jiān)測試驗箱運行壓力，帶有預(yù)報警指示器

☆ CSZ生產(chǎn)的試驗箱全部采用環(huán)保安全，不易燃，非爆炸性，具有零臭氧消耗潛能值的制冷劑（ODP）

☆ 高容量氣流裝置配有強(qiáng)勁的空氣循環(huán)器，能夠提供良好的氣流，從而提高了設(shè)備內(nèi)部的可控性；良好的氣流能大限度的減小溫度梯度，加速設(shè)備的溫度變化速率。

☆ 電子濕度傳感器，精確度高，低維護(hù)要求，適用于所有型號

☆ 加濕用水過濾系統(tǒng)可以過濾雜質(zhì)，保護(hù)試驗箱內(nèi)部

【三綜合試驗箱設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)】

☆ GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備參數(shù)檢定方法（溫度試驗設(shè)備）

☆ GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程（濕熱試驗方法）

☆ GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程（試驗A低溫試驗方法）

☆ GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程（試驗B高溫試驗方法）

☆ GJB150.3-86環(huán)境試驗方法（高溫試驗）

☆ GJB150.4-86環(huán)境試驗方法（低溫試驗）