半導體冷熱沖擊試驗箱現(xiàn)貨使用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測試各種材料對高、低溫的反復抵拉力，試驗出產品于熱脹冷縮所產生的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質，從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的認同。

半導體冷熱沖擊試驗箱特點

1）此設備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，采用*之斷熱結構及蓄熱、蓄冷效果，應用冷熱風路切換方式導入試品中，做冷熱沖擊測試，待測品為不移動之方式。

2）采用原裝日制微電腦大型液LCD（302*240 Dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。

3）高程序記憶容量，可設定儲存100組程序，大循環(huán)設定9999 Cycles，每段時間大設定999 Hrs 59Mins。

4）具有RS-232C通信接口裝置，可與計算機聯(lián)機操控/編輯/記錄及二組動態(tài)接點(Time Signal Relay)，使用便捷。

5） 執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇2Zone或3Zone之功能。

6） 具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，*由P.L.C鎖定處理。

7）機器故障時，配有自動機回路及警示號。

8） 發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時，具有緊急停機裝置。

半導體冷熱沖擊試驗箱可擴充：

1、溫度記錄器

2、LN2快速降溫控制系統(tǒng)

3、RS-485通信接口裝置，可與個人計算機同時進行局域網絡聯(lián)機監(jiān)控及記錄?？蓴U充：液態(tài)氮低溫輔助系統(tǒng)      

2、溫度自動記錄器

3、RS-485多機版局域網絡聯(lián)機監(jiān)控及記錄之軟件。

半導體冷熱沖擊試驗箱產品規(guī)格（mm)

型號:TS -80   工作室尺寸:H×W×D  400×500×400   外形尺寸: H×W×D  1500×1350×1470

型號:TS -100  工作室尺寸:H×W×D  450×500×450   外形尺寸: H×W×D  1550×1450×1550

型號:TS -150  工作室尺寸:H×W×D  500×600×500   外形尺寸: H×W×D  1600×1550×1920

型號:TS -252  工作室尺寸:H×W×D  600×700×600   外形尺寸: H×W×D  1700×1650×2170

型號:TS -480  工作室尺寸:H×W×D  750×800×800   外形尺寸: H×W×D  1850×1750×2270

半導體冷熱沖擊試驗箱現(xiàn)貨符合標準:

GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式

滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則

GB/T 2423.22-2002溫度變化

QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則,

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

GB/T2423.1-2001低溫試驗方法；

GB/T2423.2-2001高溫試驗方法；

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