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廣東艾思荔檢測儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第16年

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PCT測試箱
HAST試驗(yàn)箱
高壓滅菌鍋
恒溫恒濕試驗(yàn)箱
可程式高低溫試驗(yàn)箱
環(huán)境試驗(yàn)儀器
飽和型高壓加速老化試驗(yàn)箱 非飽和高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī) 溫度濕度高低溫循環(huán)試驗(yàn)機(jī) 快速溫度變化試驗(yàn)機(jī) 高低溫交變?cè)囼?yàn)箱 冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 耐光試驗(yàn)機(jī) 步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室 耐候試驗(yàn)機(jī)(紫外線/日光式) 高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)(PCT) 鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)—耐腐蝕試驗(yàn)機(jī) 耐水試驗(yàn)機(jī) 耐塵試驗(yàn)機(jī) 高溫試驗(yàn)機(jī) 真空高溫試驗(yàn)機(jī) 蒸氣老化試驗(yàn)機(jī) 換氣式老化試驗(yàn)機(jī) 電氣加熱高溫爐 耐黃變?cè)囼?yàn)機(jī) 電子除濕防潮箱 真空老化試驗(yàn)機(jī) 工頻振動(dòng)試驗(yàn)機(jī) 高溫高濕試驗(yàn)箱 溫度濕度鹽霧復(fù)合式試驗(yàn)箱 溫度濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)機(jī)
非標(biāo)測試設(shè)備
熱老化試驗(yàn)機(jī)
冷熱沖擊試驗(yàn)儀
高低溫循環(huán)試驗(yàn)機(jī)
恒溫試驗(yàn)箱
高溫高濕試驗(yàn)機(jī)
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太陽能光伏組件測試設(shè)備
快速溫度變化試驗(yàn)箱
UV紫外線老化試驗(yàn)
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振動(dòng)沖擊試驗(yàn)機(jī)
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電腦、手機(jī)試驗(yàn)儀器
光學(xué)儀器
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力學(xué)試驗(yàn)儀器
金相設(shè)備

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法之標(biāo)準(zhǔn)匯集

時(shí)間:2012/1/7閱讀:1592
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GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則

GB/T5170.2—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.5—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.8—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.9—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.10—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.11—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
GB/T5170.14—1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)眼動(dòng)臺(tái)
GB/T5170.15—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
GB/T5170.16—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)
GB/T5170.17—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.18—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.19—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.20—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
GB/T10586—2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10587—2006鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10588—2006長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10589—1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10590—2006高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10591—2006高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件一
GB/T10592—1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11158—1989高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

更多環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的資料請(qǐng)登錄:    :、張

熱門設(shè)備鏈接:

快速溫變?cè)囼?yàn)箱:http://asli898.cn.alibaba.com/athena/companyprofile/asli898.html
加速度沖擊試驗(yàn)機(jī):http://caturday.cn/st2092/list_160533.html
溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)機(jī):http:///news/class/?1.html
高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)機(jī):http:///asp-bin/GB/index.asp?page=7&class=60
濕冷凍試驗(yàn)箱:http:///st12126/list_51837.html

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