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供應(yīng)電鍍金鎳測(cè)厚儀廠家批發(fā)能對(duì)樣品數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、精準(zhǔn)的分析，基于當(dāng)前進(jìn)的電子技術(shù)全新設(shè)計(jì)的電路板，儀器小巧，結(jié)構(gòu)緊湊，靈敏度高，性價(jià)比。

表面銅測(cè)厚儀：牛津儀器CMI165，是世界帶溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)厚儀；具有溫度補(bǔ)償功能，測(cè)量結(jié)果精確且不受銅箔溫度影響；配有探針?lè)雷o(hù)罩，確保探針的耐用性，可以在...

手持式面銅測(cè)厚儀 CMI563牛津儀器CMI563系列專為測(cè)量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計(jì)。

涂層測(cè)厚儀，可測(cè)量：磁性底材上的非磁性涂層厚度，如鋼鐵上的非磁性涂鍍層，油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等；非磁性底材上的非磁性涂層厚度，如銅、鋁、奧氏體不銹鋼上的所有...

X-Strata980X熒光測(cè)厚儀這款儀器能對(duì)電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測(cè)。一旦識(shí)別出問(wèn)題區(qū)域，即可對(duì)特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢...

X熒光鍍層測(cè)厚儀結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測(cè)器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積的檢測(cè)需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測(cè)器確保的信/躁比，從而降低檢測(cè)下...

鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。

銀層膜厚儀將的基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到CM1243，使其達(dá)到了士1%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3%以內(nèi)的精確度。牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的*應(yīng)用，將底材效應(yīng)...

支架測(cè)厚儀具有多功能性、高擴(kuò)展性和*的統(tǒng)計(jì)功能，統(tǒng)計(jì)功能用于數(shù)據(jù)整理分析。CMI700是一臺(tái)高靈活性的臺(tái)式銅厚測(cè)試儀，具有*數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能。

孔面銅測(cè)厚儀具有多功能性、高擴(kuò)展性和*的統(tǒng)計(jì)功能，統(tǒng)計(jì)功能用于數(shù)據(jù)整理分析。CMI700是一臺(tái)高靈活性的臺(tái)式銅厚測(cè)試儀，具有*數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能。

金銀膜厚儀牛津儀器將的基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到CM1243，使其達(dá)到了士1%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3%以內(nèi)的精確度。牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的*應(yīng)用，將...

收二手牛津儀器、CMI品牌、CMI900、X-RAY、膜厚測(cè)試儀、膜厚儀

涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x具有多種擴(kuò)展口、可選配備多種探頭，具有多功能性和可擴(kuò)展性，可測(cè)量線路板的孔銅厚度、面銅厚度、綠油厚度；同時(shí)可以測(cè)量測(cè)量各種金屬鍍層/涂層厚度。

X-Starata920熒光鍍層X(jué)射線測(cè)厚儀 X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡(jiǎn)單、快速、無(wú)損的鍍層厚度測(cè)...

孔銅測(cè)厚儀 CMI511*臺(tái)帶溫度補(bǔ)償功能的測(cè)量孔內(nèi)鍍銅厚度的便攜式測(cè)厚儀CMI511，是手持的電池供電的測(cè)厚儀。用于PCB侵蝕工序前、后孔內(nèi)鍍層厚度測(cè)量。*的...

膜厚儀廠家采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，磁感應(yīng)膜厚儀來(lái)測(cè)定覆層厚度。

便攜式測(cè)厚儀CMI165SRP-T1 面銅探頭供應(yīng)商綜合運(yùn)用微電阻原理及溫度補(bǔ)償技術(shù)，使其成為世界上推出帶溫度補(bǔ)償功能的銅箔測(cè)厚儀的制造商。

X-Strata920、CMI900適用的各種厚度規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，鍍層標(biāo)準(zhǔn)片或者薄膜片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的儀器標(biāo)...

高精度便攜式牛津孔銅厚測(cè)試儀CMI511*的溫度補(bǔ)償特性使其適用于在電鍍過(guò)程中進(jìn)行厚度測(cè)量，從而降低廢料、返工成本。

專業(yè)生產(chǎn)優(yōu)質(zhì)線路板孔、面銅測(cè)厚儀CMI760專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)；采用微電阻和電渦流方式測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。具有多功能性、...