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更新時(shí)間:2016-09-07 16:02:49瀏覽次數(shù):460次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)X-Strata920系列 X熒光鍍層測(cè)厚儀 X熒光鍍層測(cè)厚儀價(jià)格
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鼎極天質(zhì)量保證 膜厚測(cè)試儀?X射線衍射裝置
具體地說,比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。
主要特點(diǎn)
★ 自動(dòng)對(duì)焦功能 。配備激光自動(dòng)對(duì)焦功能,能夠準(zhǔn)確對(duì)焦,提高測(cè)量效率。
★ 具有焦點(diǎn)距離切換功能,適用于有凹凸的機(jī)械部件與電路板的底部進(jìn)行測(cè)量
★ 采用檢量線法和FP法,兩個(gè)準(zhǔn)直器可自動(dòng)切換,采用激光自動(dòng)對(duì)焦,并配備有Z軸防沖撞傳感器,可防止在對(duì)焦時(shí)造成的損壞。
★ 選用Mo靶材X射線管,測(cè)量貴金屬更靈敏。
★ 支持多種語言的軟件系統(tǒng)。簡(jiǎn)體中文、繁體中文、英語、日語、韓語
★ 搭載樣品尺寸的兼容性可適用于各種樣品,能夠通過一臺(tái)儀器測(cè)量,從電子部件、電路板到機(jī)械部件等高度較高的樣品,從較厚的樣品(機(jī)械零部件)之大型線路板(PCB)及電子元器件等
★ 鹵素?zé)粽彰?/p>
★即時(shí)生成測(cè)量報(bào)告的便捷性 。運(yùn)用搭載的Microsoft Word? Excel? 可以簡(jiǎn)單輕松得到制作報(bào)告
★ 多種修正功能?;男拚⒁阎獦悠沸拚?、人工輸入修正
★ 搭載了電動(dòng)X-Y移動(dòng)平臺(tái)
鼎極天質(zhì)量保證 膜厚測(cè)試儀?X技術(shù)參數(shù)
可測(cè)元素:Ti~U
X射線管:管電壓45KV,管電流1mA
檢測(cè)器:比例計(jì)數(shù)管
樣品觀察:CCD攝像機(jī)
對(duì)焦方式:激光自動(dòng)對(duì)焦
測(cè)定軟件:薄膜FP法、檢量線法
準(zhǔn)直器:2個(gè)(0.1mm,0.025*0.3mm)
安全機(jī)能:測(cè)量室門自鎖功能
Z軸防沖撞功能
儀器自診斷功能
SII的產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。
簡(jiǎn)單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
鼎極天質(zhì)量保證 膜厚測(cè)試儀?X原理
采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。
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