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更新時間:2018-01-03 13:42:14瀏覽次數(shù):4621次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)X射線管
5000系列為側(cè)窗口X光管。廣泛應(yīng)用于許多工業(yè)領(lǐng)域,5000系列的電子槍封裝于鉛內(nèi)襯不銹鋼管中,并可以有選擇性地配有安裝法蘭。 這種設(shè)計可使在2英寸以外的X射線輻射水平不超過0.25mR/hr。管中裝有我們設(shè)計的冷卻油, 可進行zui有效地散熱。可以用高壓凹式連接器或無空氣連接器和一個三軸連接器來提供燈絲電源。這種射線管在燈絲接地、陽極加正壓的模式下工作,標(biāo)準(zhǔn)窗口是0.005英寸鈹窗。
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牛津X射線管:
牛津儀器射線技術(shù)集團的X光管產(chǎn)品品種多樣,有多種靶材可供選擇,非常適用于:測厚、RoHS檢測、材料分析、密度測量、元素分析、X光衍射、熒光分析、X射線檢測、X射線光譜。
適用機型(X熒光光譜儀):
英國牛津:X-MET5000,X-MET5100;Lab-X3500,MDX1000,X-Supreme8000,X-Strata980。
日本島津:EDX-700、EDX -720、EDX-900 、EDX-700S、EDX-700HS 、EDX-720/900HS。
技術(shù)參數(shù):
陽極電流?。?font face="Times New Roman">0到1.0毫安;
陽極(靶)電壓:4 - 50千伏;
zui大功率:50瓦連續(xù);
燈絲電壓:2.0伏 & 50千伏每毫安;
燈絲電流:zui大1.7安培;
穩(wěn)定性:4小時內(nèi)0.2%;
焦斑大?。航拱邩?biāo)稱值 110µm*;
陰極類型:鎢、鉬、銠、銀、鈀 可選;
出射窗:鈹窗,125 µm(可選75、250µm)
應(yīng)用
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量 ,從質(zhì)
量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
鍍層測厚儀行業(yè)
用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,LED支架,五金電鍍,連接器等……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)
主要規(guī)格 規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) zui多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:
-圓形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,zui小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)
在12.7mm聚焦距離時,zui大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
樣品室
-樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
-zui大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
-XY軸程控移動范圍 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm
還有5種規(guī)格任選
-Z軸程控移動高度 43.18mm
-XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
-樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。(50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。)
激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統(tǒng)配置 IBM計算機
惠普或愛普生或佳能彩色噴墨打印機
分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng):WindowsXP(OEM)中文平臺
分析軟件包: SmartLink FP軟件包
-測厚范圍 可測定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。
-基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。
樣品種類: 鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍:Ti22 – U92
可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測,如Au karat評價
材料和合金元素分析,
材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
元素光譜定性分析
-調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移
-測量自動化功能 鼠標(biāo)激活測量模式:“Point and Shoot”
多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復(fù)測量模式
測量位置預(yù)覽功能
激光對焦和自動對焦功能
-樣品臺程控功能 設(shè)定測量點
連續(xù)多點測量
測量位置預(yù)覽
-統(tǒng)計計算功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、
數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
數(shù)據(jù)庫存儲功能
任選軟件:統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器
●精度高、穩(wěn)定性好
●強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
●測量范圍寬
●NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片
●服務(wù)及支持
生產(chǎn)廠商:牛津儀器
亦稱表面銅厚探頭、PCB面銅探頭、線路板面銅探頭,CMI760
探頭由連線和SRP-4探針組成,耗損的SRP-4探針可拆卸,可快速更換,節(jié)省費用和減少停機時間
應(yīng)用*的微電阻測量技術(shù)測量線路板的表面銅厚,測量時,電流由正極到負(fù)極會有微小的電阻,通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚,不受絕緣板層厚度和線路板背面銅層影響
銅厚測量范圍:
化學(xué)銅:0.25μm–12.7μm(10μin–500μin)
電鍍銅:2.5μm–152μm(0.1mil–6mil)
線形銅可測試線寬范圍:203μm–6350μm(8mil–250mil)
準(zhǔn)確度:±5%參考標(biāo)準(zhǔn)片
精確度:化學(xué)銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.2%;
電鍍銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.3%;
分辨率:0.01mils≥1 mil,0.001mils<1mil,0.1μm≥10μm,0.01μm<10μm,0.001μm<1μm
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