臺(tái)式測(cè)厚儀CMI760/CMI563SRP-4 面銅探針是電測(cè)試的接觸媒介，為精密型電子五金元器件。SRP-4探針，臺(tái)式測(cè)厚儀CMI760/CMI563，也就是SRP-4探頭前端的水晶頭。

臺(tái)式測(cè)厚儀CMI760/CMI563SRP-4 面銅探針*

鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用

CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量  ，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。

臺(tái)式測(cè)厚儀CMI760/CMI563SRP-4 面銅探針*特點(diǎn)：

利用微電阻原理通過四針式探頭進(jìn)行銅厚測(cè)量，符合EN14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

具有溫度補(bǔ)償功能，測(cè)量結(jié)果精確且不受銅箔溫度影響

配有探針防護(hù)罩，確保探針的耐用性，可以在惡劣的使用條件下進(jìn)行正常檢測(cè)

可自行替換，更換后無需校準(zhǔn)即可使用

臺(tái)式測(cè)厚儀CMI760/CMI563SRP-4 面銅探針*

鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

主要規(guī)格                           規(guī)格描述
 
X射線激發(fā)系統(tǒng)                   垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
 
                                       空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
 
                                       標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
 
                                       功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標(biāo)準(zhǔn)

                                        75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選
 
                                       裝備有安全防射線光閘
 
                                       二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
 
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)            zui多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
 
                                       多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：

                                       －圓形，如4、6、8、12、20 mil等

                                       －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測(cè)量斑點(diǎn)尺寸                     在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055mm（使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器）
 
                                       在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準(zhǔn)直器）
 
樣品室