多晶X射線X射線表面分析儀

XD6型多晶X射線衍射儀用于晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)定性定量分析。該產(chǎn)品在XD3基礎(chǔ)上設(shè)計，測角儀掃描半徑連續(xù)可調(diào)。該功能使得用戶可以在儀器測角分辨率和測試衍射線強度之間進(jìn)行均衡選擇，自行設(shè)定需要的試驗條件，滿足不同情況試驗需求。XD6提高了快速轉(zhuǎn)動速度，從而提高實驗效率。

多晶X射線X射線表面分析儀 產(chǎn)品特點：

• 結(jié)構(gòu)新，采用立式測角儀結(jié)構(gòu)，更加方便的樣品放置方式，對于操作、維護(hù)的工作力度簡化，更加直觀的使用，便于清理實驗后的樣品臺。

• 采用細(xì)分驅(qū)動電源技術(shù),掃描半徑連續(xù)可調(diào)。

• 進(jìn)口NaI閃爍晶體計數(shù)探測器，分辨率及長時間使用穩(wěn)定性好。

• X射線管套采用整體銅棒材加工定位精度、射線防護(hù)性更好；采用了轉(zhuǎn)輪式快門，開關(guān)速度更快，故障率更低，射線阻斷性更好，機柜外輻射劑量低。

• X射線光源的數(shù)字控制電路作了進(jìn)一步的改善，X光機的工作功率*由計算機遙控設(shè)定。高壓與管流的加載過程受微電腦控制自動操作，使用更加簡單，運行更加可靠。

• 中文視窗操作界面，全新改版的PDP衍射數(shù)據(jù)處理軟件包，支持多種數(shù)據(jù)輸出方式。