一、概述

UTM－103H型超聲波測(cè)厚儀是我公司推出、進(jìn)口組裝生產(chǎn)的小型數(shù)字化顯示單測(cè)鋼測(cè)厚儀, 該儀器應(yīng)用了*的單片機(jī)技術(shù)，并采用液晶顯示技術(shù)顯示測(cè)量厚度值, 可自動(dòng)校準(zhǔn)。UTM-103H型超聲波測(cè)厚儀操作簡(jiǎn)便、穩(wěn)定可靠， 是無損檢測(cè)工作者理想的檢測(cè)工具。

二、基本原理

超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反向原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面進(jìn)，脈沖被反向回探頭，通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。

三、技術(shù)性能

1、測(cè)量范圍：1.2mm～220mm（鋼常規(guī)探頭）

2、顯示方式：4位數(shù)字液晶顯示，場(chǎng)置背光

3、測(cè)量誤差：±（0.5%H+0.1）mm

4、耦合指示：被測(cè)件與探頭耦合良好時(shí)，顯示：“魯科”

5、自動(dòng)斷電：停止測(cè)量約8分鐘，自動(dòng)關(guān)機(jī)

6、電源：一節(jié)5號(hào)“AA”堿性電池

7、欠電壓指示：當(dāng)電源≤1.2V時(shí)，顯示：L

8、儀器外型尺寸：128×63×27（mm）

9、重量：135g

10、使用環(huán)境：溫度－10℃～50℃

              相對(duì)濕度≤90%

超聲波測(cè)厚儀按工作原理分：有共振法、干涉法及脈沖反射法等幾種，由于脈沖反射法并不涉及共振機(jī)理，與被測(cè)物表面的光潔度關(guān)系不密切，所以超聲波脈沖法測(cè)厚儀是Z受用戶歡迎的一種儀表。     1. 工作原理     超聲波測(cè)厚儀主要有主機(jī)和探頭兩部分組成。主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路、計(jì)數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵(lì)探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收，通過單片機(jī)計(jì)數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過試樣的時(shí)間的一半而得到試樣的厚度。     我公司經(jīng)營(yíng)的系列超志波測(cè)厚儀，在采用*技術(shù)的基礎(chǔ)上，運(yùn)用單片機(jī)技術(shù)研制 的一種低功耗低下限袖珍式的智能測(cè)量?jī)x器，不僅有測(cè)量不同材質(zhì)厚度的儀器，而且有單測(cè)鋼，超薄型的，同時(shí)均可配套高溫測(cè)厚探頭。     2. 測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域     由于超聲波處理方便，并有良好的指向性，超聲技術(shù)測(cè)量金屬，非金屬材料的厚度，既快又準(zhǔn)確，無污染，尤其是在只許可一個(gè)側(cè)面可按觸的場(chǎng)合，更能顯示其*性，廣泛用于各種板材、管材壁厚、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的情況，因此對(duì)冶金、造船、機(jī)械、化工、電力、原子能等各工業(yè)部門的產(chǎn)品檢驗(yàn)，     對(duì)設(shè)備安全運(yùn)行及現(xiàn)代化管理起著主要的作用。     超聲清洗與超聲波測(cè)厚儀僅是超聲技術(shù)應(yīng)用的一部分，還有很多領(lǐng)域都可以應(yīng)用到超聲技術(shù)。比如超聲波霧化、超聲波焊接、超聲波鉆孔、超聲波研磨、超聲波液位計(jì)、超聲波物位計(jì)、超聲波拋光、超聲波清洗機(jī)、超聲馬達(dá)等等。超聲波技術(shù)將在各行各業(yè)得到越來越廣泛的應(yīng)用。     3. 影響測(cè)量精度的原因     （1） 覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；     （2） 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)；     （3） 任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響；     （4） 渦流測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng)，即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的。     （5） 試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；     （6） 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度，粗糙度增大，影響增大；