試塊根據(jù)檢定部門和使用環(huán)境可分為標準試塊、對比試塊和試塊三類。
1、標準試塊
標準試塊—指材質(zhì)、形狀、尺寸及性能均經(jīng)主管機關(guān)或機構(gòu)檢定的試塊、用于對超聲檢測裝置或系統(tǒng)的性能測試及靈敏度的調(diào)整。
(A)、CSK-IA試塊
![](https://img76.ybzhan.cn/9/20210116/637463831435773716747.jpg)
該試塊是國家TB1152-81規(guī)定的試塊,它與標準試塊ⅡW相比有以下三處不同:
一是將R100圓曲面改為R50、R100階梯圓曲面,可同時獲得二個反射回波,校正橫波掃描速度;
二是將50孔改為40、44、50臺階孔,有利于測定斜探頭的分辨率;
三是將折射角改為K值。
其用途有以下幾條:
⑴利用厚度25 mm和高度100 mm,測定探傷儀的水平、垂直線性、動態(tài)范圍和調(diào)整縱波探測范圍、校正時基線。
⑵利用R50和R100調(diào)整橫波探測范圍、零位校正和測定斜探頭的入射點(前沿長度)。
⑶利用高度85、91、100 mm測定直探頭分辨力;利用40、44、50曲面測定斜探頭分辨力。
⑷利用50曲面和1.5橫孔測定斜探頭K值。
⑸利用50有機玻璃塊測定直探頭盲區(qū)和穿透力。
⑹利用試塊直角棱邊測定斜探頭 的聲軸偏斜角。
(B)、SH-1型半圓試塊
![](https://img78.ybzhan.cn/9/20210116/637463831742343063596.jpg)
該試塊大優(yōu)點是體積小攜帶方便。
可調(diào)整探測范圍,測定儀器的水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍,測定斜探頭的入射點、折射角及調(diào)整探傷靈敏度。
(C)、CS-1-5試塊
CS-1試塊屬成套試塊,主要用于繪制振幅-當量曲線和當量法確定被檢工件內(nèi)的缺陷大?。?/p>
測定直探頭聲束偏移量;測量探傷儀衰減器精度。
CS-1-5試塊是CS-1系列中的一塊,其平底孔徑為φ2 mm,常用于測試直探頭和儀器組合的靈敏度余量。
2、對比試塊
對比試塊是指調(diào)整超聲檢測系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。
屬非標準試塊,一般采用和被檢材料特性相似的材料制成。
鐵道部推薦的WGT-1、WGT-2、WGT-3 、GTS-60 以及長期延用的三角試塊都屬鋼軌探傷中的對比試塊。
(A)、AWGT-1試塊
該試塊的一端是半徑R=40mm的圓曲面,用于測定斜探頭的入射點和前沿長度;
另一端是R=15mm 的模擬鋼軌螺孔并有深3mm,與水平面(B面)36°角的螺孔裂紋;
在試塊上另有一個Ф3的橫通孔,這些人工反射體均作為斜探頭靈敏度校驗之用。
![](https://img78.ybzhan.cn/9/20210116/637463832136557590177.jpg)
(B)、WGT-2試塊
該試塊主要用于測量探傷儀和70º探頭的距離幅度特性,它包括探傷儀的距離補償和探頭的距離幅度特性。
當從A面和B 面用一次波或二次波探測時,可獲得探測深度為:5、10、15、25、35、30、45、50、55、65、70和75共計12個探測點。