本課題組長(zhǎng)期跟蹤研究雜質(zhì)顆粒的掃描測(cè)試技術(shù)，1994年完成激光掃描式XLPE電纜絕緣料雜質(zhì)顆粒測(cè)試儀研制，在此基礎(chǔ)上完成研制電子攝像式雜質(zhì)測(cè)試儀。與激光掃描式儀器比較，本儀器分辨力提高了一倍，測(cè)試速度提高了四倍，操作使用性能也大大提高，是電纜絕緣料生產(chǎn)過(guò)程中的一種重要的檢測(cè)設(shè)備。
    電子攝像式雜質(zhì)測(cè)置儀原理本儀器的核心部件是電荷耦合固體攝像器件線簡(jiǎn)稱CCD，它是由一列（如1024個(gè)）14fmiX14nm的光的二極管和電荷耦合位移寄存器組成，它用電荷轉(zhuǎn)移的方式將光電二極管陣列所接收來(lái)的外部光信號(hào)產(chǎn)生的光生載流子，在時(shí)基信號(hào)的控制下順序輸出，將空間連續(xù)分布的光強(qiáng)函數(shù)變成離散的時(shí)間序列的光生電動(dòng)勢(shì)函數(shù)。由CCD、光源、機(jī)械部分信號(hào)處理系統(tǒng)及微機(jī)系統(tǒng)組成的測(cè)試儀，工作原理如所示。被測(cè)料由小型擠出機(jī)擠成熔融薄帶，經(jīng)三輯壓成7mm0.9mm厚連續(xù)試樣，經(jīng)導(dǎo)輥通過(guò)CCD電子攝像機(jī)物面，成像于光敏元上，如有雜質(zhì)顆粒通過(guò)，便逾住若干光敏元，使其無(wú)電荷產(chǎn)生輸出，電壓脈沖序列出現(xiàn)對(duì)應(yīng)“缺口”。電子系統(tǒng)檢測(cè)“缺口”寬度便測(cè)得顆粒的一維尺寸。
    低通濾波我們把均勻光波照明下，CCD輸出的等幅的離散的時(shí)間序列光生電動(dòng)勢(shì)2MHz頻率看成是視頻載波，而將雜質(zhì)像形成的“缺口”看成是調(diào)制在載波上的視頻信號(hào)，要測(cè)得視頻信號(hào)上的缺口寬度，首先要解調(diào)（檢波）或稱低通濾波，由于視頻缺口信號(hào)很窄，其高頻分量與載波（2MHz）十分接近，故一般的低通濾波器將同時(shí)把小雜質(zhì)顆粒信息一同濾掉，我們經(jīng)努力研制出由三節(jié)濾波器級(jí)連電路即在一般低通濾波器上加了兩個(gè)帶阻濾波器，使電路的頻率特性“銳截止”很好，滿足了要求，視頻調(diào)高時(shí)載信號(hào)波形及電路幅頻特性如2.2特征點(diǎn)問(wèn)題當(dāng)只考慮幾何光學(xué)時(shí)，放大倍數(shù)為1的無(wú)象差照相系統(tǒng)中，直徑為2A的顆粒成像在象平面其光強(qiáng)的一維空間分布函數(shù)應(yīng)為：讀寫指示小鍵盤四通道計(jì)數(shù)器微型打印機(jī)息1丨。視頻f低通濾波次微分質(zhì)化二次微分過(guò)零比較觸發(fā)器系統(tǒng)孔徑A為光波長(zhǎng)，K為與X、D有關(guān)常數(shù)，因此考慮衍射后顆粒的象函數(shù).
    將微分dl（Xi）信號(hào)處理各波形為式極大值I.為照明光源在象平面形成的光強(qiáng)，Xi為象面一維坐標(biāo)，Xi=0時(shí)為光軸位置，由于光衍射作用，位于光軸上的點(diǎn)光源不是S函數(shù)，而是即在對(duì)應(yīng)顆粒直徑邊緣處，光強(qiáng)函數(shù)的微分值有極值，即光強(qiáng)函數(shù)變化zui大處為對(duì)應(yīng)直徑的特征點(diǎn)。對(duì)應(yīng)時(shí)間序列視頻信號(hào)斜率zui大處“缺口”寬度即對(duì)應(yīng)顆粒直徑。