硅片厚度測(cè)定儀 硅片測(cè)厚儀 薄片厚度測(cè)試儀（型號(hào)C640）采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專(zhuān)業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

測(cè)試原理：
將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測(cè)量面上，與下測(cè)量面平行且中心對(duì)齊的上測(cè)量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測(cè)量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測(cè)出上下測(cè)量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

參照標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中國(guó)《藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范》（GMP）對(duì)軟件的有關(guān)要求（可選配置）

測(cè)試應(yīng)用：
基礎(chǔ)應(yīng)用  薄膜、薄片、紙
擴(kuò)展應(yīng)用  金屬片、硅片、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、其它材料

硅片厚度測(cè)定儀 硅片測(cè)厚儀 薄片厚度測(cè)試儀（型號(hào)C640）技術(shù)參數(shù)：
C640M
測(cè)試范圍（標(biāo)配）        0～2mm
分辨率                  0.1μm
重復(fù)性                  0.8μm
測(cè)量范圍（選配1）       0～6mm
測(cè)量范圍（選配2）       0～12mm
測(cè)量間距                0～1000（可設(shè)定）mm
進(jìn)樣速度                1.5～80（可設(shè)定）mm/s
測(cè)量方式機(jī)械接觸式
測(cè)量壓力及接觸面積薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標(biāo)準(zhǔn)配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2
C640H
測(cè)試范圍（標(biāo)配）        0～2mm
分辨率                  0.1μm
重復(fù)性                  0.4μm
測(cè)量范圍（選配1）       0～6mm
測(cè)量范圍（選配2）       0～12mm
測(cè)量間距                0～1000（可設(shè)定）mm
進(jìn)樣速度                1.5～80（可設(shè)定）mm/s
測(cè)量方式機(jī)械接觸式
測(cè)量壓力及接觸面積薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標(biāo)準(zhǔn)配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2
外形尺寸：370mm（L）×350mm（W）×410mm（H）
凈重：26kg

濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)Labthink蘭光）是一家致力于幫助客戶(hù)獲得成功、員工獲得發(fā)展、品牌獲得尊敬的跨國(guó)科技公司。30余年專(zhuān)注于檢測(cè)技術(shù)、儀器研發(fā)、測(cè)試服務(wù)和實(shí)驗(yàn)室建設(shè)四大領(lǐng)域，從以濟(jì)南為核心的中國(guó)檢測(cè)成長(zhǎng)為立足美國(guó)進(jìn)軍的跨國(guó)科技企業(yè)，為醫(yī)藥、食品、印刷、包裝、汽車(chē)、電子、生物、建筑、航空、新能源、石油化工等領(lǐng)域超過(guò)3萬(wàn)家客戶(hù)提供了全面、專(zhuān)業(yè)的產(chǎn)品質(zhì)量控制解決方案。