任經(jīng)理
產(chǎn)品簡介
測量時(shí)間 | 小于5分鐘 | 測量準(zhǔn)確度 | 1微米 |
---|---|---|---|
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
可測粒度范圍 | 1-6000微米 | 適用行業(yè) | 其他 |
顯示方式 | 其他 | 執(zhí)行質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn) | 美標(biāo) |
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品簡介:
Winner99E是一款顆粒圖像分析設(shè)備,它采用圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,將計(jì)算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論有效結(jié)合,在獲得清晰的顆粒圖像的同時(shí),將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來,使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒。此外,該款儀器還賦予了自動(dòng)化、智能化能時(shí)代性的標(biāo)志、使其操作更簡便、分析更智能、結(jié)果更穩(wěn)定,是顆粒粒度測試及粒形分析的搭檔和得力助手。
Winner99E干法動(dòng)態(tài)顯微顆粒圖像分析儀性能特點(diǎn):
直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計(jì)算機(jī)屏幕,用戶可以直觀且全局了解顆粒的表面及形狀屬性;
有效拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅,使參與分析的顆粒數(shù)量更多,測試結(jié)果更具代表性;
自動(dòng)分割粘連顆粒 采用更先進(jìn)的顆粒識(shí)別算法,對(duì)各種形狀的粘連顆粒都能自動(dòng)分割,顯著提高粘連顆粒分割準(zhǔn)確率,減少人為參與,有效縮短圖像處理時(shí)間;
自適應(yīng)二值化功能 采用一種自適應(yīng)二值化功能,使其進(jìn)行圖像二值化處理時(shí)不受拍攝光線的影響,避免了因光線不均勻等因素而導(dǎo)致顆粒信息丟失的情況,為后續(xù)處理的準(zhǔn)確奠定基礎(chǔ);
自動(dòng)處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動(dòng)處理工具集,集成了二值化、消除邊界不完整顆粒、消除雜點(diǎn)、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計(jì)算顆粒參數(shù)等功能的自動(dòng)操作,一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過程,操作簡便且結(jié)果可靠;
自由切換粒徑單位 標(biāo)尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換,便于用戶對(duì)通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步處理;
快速處理特殊形狀顆粒 對(duì)于球形顆粒,采用*的處理算法,對(duì)原始圖片無需進(jìn)行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息,即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會(huì)影響分析結(jié)果,提高球形顆粒的分析效率。
技術(shù)參數(shù):
規(guī)格型號(hào) | Winner99E | |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008 | |
顯微系統(tǒng) | 物鏡 | 4X、10X、40X、60X、100X(油)長距消色差(平場)物鏡組 |
目鏡 | 10X、16X 大視野攝像目鏡 | |
載物臺(tái) | 手動(dòng)三維機(jī)械式載物臺(tái),尺寸:185mm×140mm, 移動(dòng)范圍:50mm×75mm,粗微同軸調(diào)焦, 微動(dòng)格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置 | |
光源 | 底部透射光源,鹵素?zé)艉蚅ED光源(可選),亮度可調(diào);可選頂部金相落射式光源(帶起偏振器) | |
總放大倍數(shù) | 4倍——5000倍 | |
攝像系統(tǒng) | 高分辨率 | 2048×1536 |
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm | |
成像元件 | 1/2英寸 CMOS芯片 | |
幀率 | 6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 | |
高清晰度 | >1000line | |
信噪比 | 小于42dB | |
敏感度 | 1.0V@550nm/lux/S | |
輸出方式 | USB2.0 | |
實(shí)際觀測范圍 | 1-6000μm | |
軟件功能 | 圖像采集 | 采集樣品形貌圖像,保存格式為JPG,bmp
|
圖片處理 | 使用多種畫圖工具對(duì)圖片進(jìn)行比較簡單的處理
| |
圖像拼接 | 將多幅圖片進(jìn)行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性。同時(shí)也可單張分析保存后再進(jìn)行拼接,進(jìn)一步提高了結(jié)果的準(zhǔn)確性。 | |
顆粒的自動(dòng)處理工具集 | 自動(dòng)消除顆粒粘連、自動(dòng)消除雜點(diǎn)、自動(dòng)消除邊界不完整顆粒、自動(dòng)填補(bǔ)顆粒的空心區(qū)域、自動(dòng)平滑顆粒邊緣等12項(xiàng)自動(dòng)處理工具。
| |
比例尺標(biāo)定 | 通過國家標(biāo)準(zhǔn)測微尺標(biāo)定后,每次測試只須選擇與物鏡相對(duì)應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實(shí)際大小數(shù)值。
| |
單個(gè)顆粒數(shù)據(jù) | 可在圖片上直接對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行截面積、體積、長徑比等10多項(xiàng)參數(shù)的分析。 | |
任務(wù)管理機(jī)制 | 嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制,使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。 | |
報(bào)告輸出 | 將測試結(jié)果輸出為報(bào)告,并可以自由修改報(bào)告樣式。 | |
整體分布特征參數(shù) | D10、D50(中位徑)、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù) | |
報(bào)告參數(shù) | 整體頻率分布累計(jì)分布 | 顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計(jì)分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。 |
統(tǒng)計(jì)平均徑 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計(jì)平均徑 | |
形狀參數(shù) | 長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項(xiàng)常用數(shù)據(jù) | |
個(gè)數(shù)統(tǒng)計(jì) | 直接得到所觀測的顆粒數(shù)量 | |
樣品縮略圖 | 可以將樣品彩色或黑白(可選擇)縮略圖顯示到報(bào)告中 | |
表頭輸入 | 可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項(xiàng)信息輸入到報(bào)告表頭中 |
適用范圍:
Winner99E干法動(dòng)態(tài)顯微顆粒圖像分析儀不僅適用于棒狀、針狀等不規(guī)則顆粒,還適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。