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粒度分析儀您“注意”了嗎
粒度分析儀是根據(jù)光的散射原理測量粉顆粒大小的一種比較通用的粒度儀。測量動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便，非常適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。很多粒度分析儀集成了激光技術(shù)、現(xiàn)代光電技術(shù)、電子技術(shù)、精密機(jī)械和計算機(jī)技術(shù)，具有多種優(yōu)點(diǎn)，現(xiàn)已成為*zui流行的粒度分析儀。作為一種新型的粒度測試儀器，粒度分析儀已經(jīng)在其它粉體加工與應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。它的應(yīng)用對提高產(chǎn)品質(zhì)量、降低能源消耗有著重要的意義。
粒度分析儀是當(dāng)前應(yīng)用很廣泛的一類儀器之一，因此在使用過程中應(yīng)該注意一些事項：*，測量單元預(yù)熱；在*次開機(jī)，或關(guān)機(jī)超過半小時再重復(fù)開機(jī)時需要預(yù)熱。第二，系統(tǒng)對中；系統(tǒng)對中就是把激光束的中心與環(huán)形光電探測器的中心調(diào)成一致。第三，系統(tǒng)參數(shù)設(shè)置；在主菜單下，用鼠標(biāo)左鍵單擊“文件”，屏幕上彈出“文件”子菜單。再用鼠標(biāo)左鍵單擊“重新開始”，屏幕繼續(xù)彈出“系統(tǒng)參數(shù)設(shè)置”欄。在該欄上輸入：超聲時間、測試人等項內(nèi)容。第四，樣品準(zhǔn)備；樣品準(zhǔn)備是指從待測的粉體材料中有代表性地取出適當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)作測量樣品，選取適當(dāng)?shù)膽腋∫汉头稚?，將樣品與懸浮液混合，并讓樣品顆粒在懸浮液中充分分散，而又不與懸浮液和分散劑發(fā)生化學(xué)反應(yīng)的過程。
粒度分析儀在測量中應(yīng)該注意哪些呢：
不同粒度分析儀技術(shù)的局限性：不同粒度分析技術(shù)都受其測量原理限制.如光衍射法不能測量小于光源自然線寬的顆粒;沉降法則既受制于大尺寸端亂流的影響，又受小尺寸端擴(kuò)散（布朗運(yùn)動）的限制。一些測量儀器也會因制作和操作規(guī)程帶來一定限制。有時測量技術(shù)還對測量樣品的準(zhǔn)備提出限制，PCS測量必須使顆粒懸浮，電鏡制樣要求優(yōu)良分散。因此，了解測量技術(shù)的局限性和嚴(yán)格滿足其限制要求.對獲取正確測量結(jié)果非常必要。
測量基準(zhǔn)：不同粒度分析儀技術(shù)的原理不同，原信息源和計量目標(biāo)不同。例如光衍射法的原信息源是散射光強(qiáng)度，要求防止細(xì)顆粒中少數(shù)大顆粒對信息源的支配.電敏技術(shù)則按顆體積計數(shù)，因此各方法的基準(zhǔn)不同，彼此不能簡單歸一同比。所以必須強(qiáng)調(diào)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化因基準(zhǔn)不同會帶來明顯的誤差。
分離顆粒的能力與粒度測試技術(shù)選擇：依據(jù)對顆粒的分離能力.可將測量顆粒的技術(shù)分為單顆粒計數(shù)、顆粒分級和整體平均結(jié)果三類。圖像分析、顯微鏡是典型的單顆粒技術(shù)方法；分級方法包括篩分、沉降、離心和顆粒色譜等；整體平均的粒度分析方法，從收集到的所有測量顆粒產(chǎn)生信號的總和計算粒度分析，即測量結(jié)果由解析得到，是被測顆粒整體的平均，因此易于實現(xiàn)自動化和在線分析，但分辨率較低。用于催化劑工業(yè)生產(chǎn)的顆粒分析儀選擇整體平均的方法，實驗室研究多數(shù)情況希望獲得單顆粒技術(shù)與外貌信息，分級方法的選擇，應(yīng)當(dāng)結(jié)合測量顆粒性質(zhì)與測量方式考慮。
粒度分析儀的信息與技術(shù)指標(biāo)要求：粒度分析儀的信息要求.是指給出結(jié)果的表達(dá)方式.可以是平均粒徑、累加頻率值、正態(tài)分布、分布寬度.也可用對數(shù)正態(tài)分布、非對稱分布寬度、多峰分布的各峰相對量，以及累加頻率的不同名義（如顆粒數(shù)、體積、面積等）表達(dá)。催化劑粒度分析zui有用的信息是平均粒徑和粒徑的顆粒數(shù)分布。
