選件 3L5 在 5 Hz 至 3 GHz 的寬頻率范圍內(nèi)提供通用的高性能網(wǎng)絡(luò)分析功能。E5061B 除了具備 ENA 系列常見的優(yōu)異射頻性能以外，還提供完整的 LF(低頻)網(wǎng)絡(luò)測(cè)量能力，包括內(nèi)置 1 MΩ 輸入的增益相位測(cè)試端口。從低頻到高頻，E5061B 的全面測(cè)量應(yīng)用包括直流－直流轉(zhuǎn)換器、PDN(配電網(wǎng)絡(luò))和射頻器件，例如濾波器和放大器。
– E5061B網(wǎng)絡(luò)分析儀寬頻率范圍: 5 Hz 至 3 GHz
– S 參數(shù)測(cè)試端口(5 Hz 至 3 GHz, 50 Ω)
– 增益相位測(cè)試端口, 具有內(nèi)置的 1 MΩ 輸入(5 Hz 至 30 MHz)
– 在低頻頻段也有很高的寬動(dòng)態(tài)范圍
– 內(nèi)置直流偏置信號(hào)源 (高達(dá) ±40 Vdc, 100 mAdc 大值)
5 Hz 至 3 GHz S 參數(shù)測(cè)量
內(nèi)置 S 參數(shù)測(cè)試儀全面覆蓋 5 Hz 至 3 GHz 的范圍，允許用戶測(cè)試各種 50 Ω 的器件，包括濾波器、放大器、天線、電纜和 EMC 器件。此外，其全雙端口的 S 參數(shù)測(cè)量能力低至 5 Hz，非常適合對(duì)接近直流范圍內(nèi)的半導(dǎo)體器件的特性進(jìn)行表征。
E5061B網(wǎng)絡(luò)分析儀使用增益相位測(cè)試端口進(jìn)行高阻抗探測(cè)測(cè)量
E5061B 選件 3L5 配有增益相位測(cè)試端口，適于對(duì)那些需要直接連接信號(hào)源、接收機(jī)以及需要進(jìn)行高阻抗探測(cè)的低頻應(yīng)用進(jìn)行測(cè)試。增益相位測(cè)試端口能夠讓您輕松地對(duì)低頻放大器和直流－直流轉(zhuǎn)換器等控制環(huán)路進(jìn)行高阻抗探測(cè)測(cè)量。增益相位測(cè)試端口的測(cè)試頻率范圍為 5 Hz 至 30 MHz。R 和 T 接收機(jī)的輸入阻抗可以在 1 MΩ 和 50 Ω 之間進(jìn)行切換。
全面的 PDN 測(cè)量解決方案
E5061B-3L5 可以在配電網(wǎng)絡(luò)(PDN: 用于高性能 LSI 的直流電源電路)的頻域內(nèi)進(jìn)行全方測(cè)試。
– 5 Hz 至 3 GHz 頻率范圍
– 直流－直流轉(zhuǎn)換器環(huán)路增益測(cè)量
– 使用增益相位測(cè)試端口進(jìn)行毫歐姆測(cè)量
– 用于陶瓷旁路電容器的直流偏置測(cè)量
主要特性和功能
提供各種測(cè)試儀選件，讓您選擇適合自身測(cè)試需求的配置：100 kHz 至 1.5 GHz/3 GHz，2 端口，50 或 75 Ω，傳輸/反射或 S 參數(shù)測(cè)試儀使用低頻-射頻選件（選件 3L5）滿足各類應(yīng)用需求：5 Hz 至 3 GHz，2 端口，50 Ω，S 參數(shù)測(cè)試儀，增益相位測(cè)試端口，內(nèi)置的直流偏置源在單臺(tái)儀器中整合了網(wǎng)絡(luò)分析和阻抗分析功能，針對(duì)您的應(yīng)用量身定制（選件 3L5 和 005）
技術(shù)指標(biāo)
大頻率 | 3 GHz |
動(dòng)態(tài)范圍 | 120 dB |
輸出功率 | 10 dBm |
軌跡噪聲 | 0.005 dBrms |
內(nèi)置端口數(shù)量 | 2 端口 |
諧波 | -25 dBc |
本底噪聲 | -110 dBm |
掃描速度高可達(dá) 201 個(gè)點(diǎn) | 9毫秒 |
應(yīng)用 | S 參數(shù) 故障點(diǎn)距離 回波損耗 插入損耗/增益 低頻電路（5 Hz） |
元器件 | 電纜 放大器 諧振器 直流-直流轉(zhuǎn)換器/PDN 天線/線圈/RFID 濾波器 LCR 組件 |
臺(tái)式 | 是 |
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