北京多晶電子科技有限公司
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更新時(shí)間:2024-12-04 07:21:46瀏覽次數(shù):32次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)描述:BeamPeek™ 系統(tǒng)允許同時(shí)對(duì)增材制造 (AM) 激光器進(jìn)行光束分析、焦斑大小和位置以及功率測量。它跟蹤這些參數(shù)如何隨時(shí)間變化,以幫助維持制造零件的質(zhì)量和可重復(fù)性。...
BeamPeek™ 集成了激光光束分析儀相機(jī)、功率計(jì)、光束收集器、分束器和光學(xué)器件,為工業(yè)環(huán)境中的增材制造激光分析提供了一個(gè)全面的解決方案。
焦點(diǎn)尺寸
校準(zhǔn)焦點(diǎn)位置以構(gòu)建平面
激光功率
激光功率密度
光斑大小和功率隨時(shí)間的變化
BeamPeek 允許在 1kW 的情況下使用被動(dòng)冷卻進(jìn)行長達(dá) 2 分鐘的連續(xù)測量,無需風(fēng)扇或通過射束收集器可互換盒進(jìn)行水/空氣冷卻。其工業(yè)設(shè)計(jì)使其易于集成到生產(chǎn)線中并在不干擾生產(chǎn)過程的情況下執(zhí)行激光特性分析。
波長 | 532nm, 1030-1080nm |
最小-焦點(diǎn)尺寸 | 34.5µm - 2mm |
功率范圍 | 10 - 1000 瓦 |
焦距 | 150mm-800mm |
焦點(diǎn)位置已校準(zhǔn) | ±100µm |
光束分析 | ISO 11146 測量 |
功率計(jì) | NIST 溯源校準(zhǔn) ±3% |
遵守 | CE、UKCA、中國 RoHS |
BP 是否需要定期校準(zhǔn)?是的,因?yàn)?BeamPeek 包括 Ophir 常規(guī)功率計(jì)。
相機(jī)傳感器/焦平面位于何處?與具有焦平面設(shè)置的 BeamCheck 不同,當(dāng)激光焦點(diǎn)位于床表面時(shí),相機(jī)傳感器處于對(duì)焦?fàn)顟B(tài),BeamPeek 相機(jī)傳感器在底座/機(jī)器床上大約 75 毫米(精確值針對(duì)每個(gè)設(shè)備單獨(dú)校準(zhǔn)) . 為了使光束聚焦在相機(jī)傳感器上,床身必須向下移動(dòng)校準(zhǔn)值。這種設(shè)置的原因是改進(jìn)了功率處理:更高的功率和更長的高功率曝光時(shí)間。
獲得功率測量結(jié)果的最短等待時(shí)間是多少?對(duì)于帶熱敏頭的功率計(jì),功率測量的最短響應(yīng)時(shí)間為 3 秒。
獲得功率測量結(jié)果的最短等待時(shí)間是多少?對(duì)于帶熱敏頭的功率計(jì),功率測量的最短響應(yīng)時(shí)間為 3 秒。
如果使用 NIR 激光波長 1070nm,測量 1064nm 或 1080nm 應(yīng)該選擇哪個(gè) PM 波長?選擇激光波長的波長,在本例中 1064 比 1080 更接近。
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