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更新時(shí)間:2024-01-16 15:19:56瀏覽次數(shù):137次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)產(chǎn)品介紹:1.采用原裝電致冷 性能Si-PIN探測(cè)器,分辨率高,探測(cè)范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。2.配置 進(jìn)的DPP數(shù)字多道信號(hào)集成處理器,比普通模擬多道信號(hào)處理器性能佳,尤其在計(jì)數(shù)率時(shí)分辨率高(如Hg和CI等),高達(dá)80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間變短,尤其在測(cè)量重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性上有提高。3.內(nèi)置清攝像系統(tǒng),清晰觀察樣品,準(zhǔn)確定位樣品測(cè)試區(qū)......
產(chǎn)品介紹:
1.采用原裝電致冷 性能Si-PIN探測(cè)器,分辨率高,探測(cè)范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。
2.配置 進(jìn)的DPP數(shù)字多道信號(hào)集成處理器,比普通模擬多道信號(hào)處理器性能佳,尤其在計(jì)數(shù)率時(shí)分辨率高(如Hg和CI等),高達(dá)80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間變短,尤其在測(cè)量重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性上有提高。
3.內(nèi)置清攝像系統(tǒng),清晰觀察樣品,準(zhǔn)確定位樣品測(cè)試區(qū)域。
4.配套FP測(cè)量軟件,集成多種譜圖處理算法和基體校正算法,有效降低儀器測(cè)量中的各種干擾譜峰,使低含量和痕量元素的檢測(cè)結(jié)果趨近準(zhǔn)確,更加接近真值水平。
能量色散X熒光光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點(diǎn),將來(lái)自試樣的熒光X射線依次檢測(cè),得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖,經(jīng)放大器放大后送到多道脈沖分析器。按脈沖幅度的大小分別統(tǒng)計(jì)脈沖數(shù),脈沖幅度可以用X光子的能量標(biāo)度,從而得到計(jì)數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線,即X光能譜圖。
1、探測(cè)器:Amptek Si-PIN探測(cè)器,高速脈沖分析系統(tǒng);
2、高壓電源:Spellman 50w(50kv/MA);
3、X射線管:50w側(cè)窗鈹窗型X射線管;
4、能量分辨率:149ev;
5、元素分析范圍:硫(S)-鈾(U);
6、測(cè)量時(shí)間:60-300S;
7、測(cè)量含量范圍:1ppm-99.9%;
8、交流220v供電設(shè)備:1KVA交流凈化穩(wěn)壓電源;
9、工作溫度:10-30°C;
10、測(cè)量條件:大氣環(huán)境;
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