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針對光通信行業(yè)中光波導器件的光纖端面粗糙度的檢測需求，SuperView系列白光干涉儀基于白光干涉原理和納米掃描系統(tǒng)，具備0.1nm的縱向分辨率和全透明表面干涉條紋成像的能力，能夠輕松實現(xiàn)針對FA光纖端面粗糙度Sz參數(shù)的高精度、高重復性的一鍵式測量。
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