INVENIO紅外光譜儀

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更新時(shí)間：2024-11-11 08:59:52瀏覽次數(shù)：27次

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青島遠(yuǎn)博檢驗(yàn)檢測(cè)技術(shù)有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：147條

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

INVENIO 適用于幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域及任何行業(yè)，從常規(guī)質(zhì)量控制到的研發(fā)工作。

詳細(xì)介紹

創(chuàng)新特性

全新設(shè)計(jì)的光束路徑帶來優(yōu)異的信噪比
嵌入式觸摸屏PC用于且高效的FT-IR分析（可選）
第二個(gè)樣品室可額外支持一種實(shí)驗(yàn)設(shè)置(TransitTM)
創(chuàng)新的 MultiTect™ 支持多達(dá)5個(gè)室溫檢測(cè)器，內(nèi)部可配備多達(dá)7個(gè)自動(dòng)檢測(cè)器
新型無磨損精準(zhǔn)調(diào)節(jié) INTEGRAL™ 干涉儀含三位分束器自動(dòng)切換組件，分辨率優(yōu)于 0.085cm-1
現(xiàn)代 SoC 電子元件使用戶能夠分辨最小的光譜特征
的BRUKER FM檢測(cè)技術(shù)可以一次性收集遠(yuǎn)、中紅外光譜
從 FIR 到 VIS/UV 以及時(shí)間分辨光譜

需求變化，INVENIO 適應(yīng)

您的應(yīng)用程序是衡量事物的尺度，INVENIO 支持您的努力。如果您的分析需求增長，INVENIO 會(huì)跟上。它是您日常分析任務(wù)所需的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。

的靈敏度

憑借新穎、高效的光路設(shè)計(jì)，以及由的SoC電子元件控制的精確的光學(xué)系統(tǒng)，INVENIO能夠?yàn)槟峁┬阅?，再?xì)小的光譜細(xì)節(jié)亦無處可遁。

強(qiáng)大的軟件

OPUS作為紅外分析領(lǐng)域大的軟件解決方案之一，能夠簡(jiǎn)化測(cè)量程序，為FTIR初學(xué)者和專家提供支持，提供大量的方法創(chuàng)建成套工具，以及樣品評(píng)估擴(kuò)展功能。

時(shí)刻驗(yàn)證

INVENIO具有完整的自動(dòng)PQ（性能驗(yàn)證）和OQ（操作驗(yàn)證）程序，可在受監(jiān)管的制藥實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行儀器驗(yàn)證

體驗(yàn)質(zhì)量

從耐用的外殼，到擁有、無損耗且精準(zhǔn)的干涉儀，每個(gè)元件均采用質(zhì)的材料制成。INVENIO經(jīng)久耐用，能夠?yàn)槟峁╅L達(dá)多年的長久可用性。

不再受限