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環(huán)境應力的篩選試驗主要有以下情形：
在電子產(chǎn)品上施加隨機振動及溫度循環(huán)應力，以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期失效的一種工序或方法.
為發(fā)現(xiàn)和排除不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現(xiàn)早期失效，在環(huán)境應力下所做的一系列試驗。
為暴露產(chǎn)品的薄弱部分及質(zhì)量缺陷，在環(huán)境應力下所做的一系列試驗。
在環(huán)境應力作用下的一系列試驗，目的是暴露薄弱部件及工藝缺陷，以便糾正。
主要依據(jù)的標準有：
GJB1032-90
GJB451-90
MIL-STD-721C-81
MIL-STD-785B-80
目前主要有北京環(huán)境可靠性與電磁兼容試驗服務中心和北航還有一些航天單位可以做環(huán)境應力的篩選試驗。
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