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飛諾飛科技(上海)有限公司
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金硅面壘型半導(dǎo)體探測(cè)器

參  考  價(jià):1000 - 10000
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)

  • 品牌

    其他品牌

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)商

  • 所在地

    上海市

更新時(shí)間:2023-10-13 11:56:50瀏覽次數(shù):2911次

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產(chǎn)地 國(guó)產(chǎn) 加工定制
我公司生產(chǎn)部分耗盡型金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器,A 系列具有高能量分辨率、窗薄等特點(diǎn),適用于對(duì)能譜要求高的場(chǎng)合,如氡釷分析儀等,B 系列在 A 系列的窗前鍍上一個(gè)保護(hù)層,克服了易損壞、窗不能擦試等缺點(diǎn)適用于對(duì)能量分辨率要求不高,作為放射性強(qiáng)度測(cè)量的探測(cè)器。

金硅面壘型半導(dǎo)體探測(cè)器

概述

我公司生產(chǎn)部分耗盡型金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器,A 系列具有高能量分辨率、窗薄等特點(diǎn),適用于對(duì)能譜要求高的場(chǎng)合,如氡釷分析儀等,B 系列在 A 系列的窗前鍍上一個(gè)保護(hù)層,克服了易損壞、窗不能擦試等缺點(diǎn)適用于對(duì)能量分辨率要求不高,作為放射性強(qiáng)度測(cè)量的探測(cè)器。

 

技術(shù)規(guī)格

 

 

型號(hào)

 

 

工作電壓

 

 

耗盡區(qū)厚度 μm

對(duì)比ORTEC

U-016-300-100 型

探測(cè)器

Am-241 面源) 真空下測(cè)量能量分辯率 1.2?

對(duì)比ORTEC

U-016-300-100 型

探測(cè)器

Am-241 面源) 真空下測(cè)量峰道址202

A-AS20

5~300VDC

大于 1000

0.7~1.4?

204~206

A-AS26

5~300VDC

大于 1000

0.7~1.4?

204~206

B-AS20

5~300VDC

大于 1000

4.0~4.9?

189-191

B-AS26

5~300VDC

大于 1000

4.2~4.9?

189-191


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