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閱讀:1095發(fā)布時(shí)間:2022-8-8
在各行業(yè)中,我們都會(huì)用到高壓陶瓷電容器,它具有耐磨直流高壓的特點(diǎn)。適用于高壓旁路和耦合電路中,它的測試方法、自恢復(fù)期、單位及符號(hào)分別如下:
一、高壓陶瓷電容測試方法:
高壓陶瓷電容器的可靠性測試,也叫老化測試,壽命測試,包括很多方面的測試內(nèi)容:
1.串聯(lián)電阻測試,絕緣電阻測試;
2.拉力測試,即引線與芯片焊接的牢固度;
3.正負(fù)溫變化率測試,即-40度到+60度狀況下,電容的變化率;
4.老化測試,高壓陶瓷電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天,測試其衰減其各項(xiàng)參數(shù)的變化;
5.耐壓實(shí)驗(yàn),包括額定工作電壓24小時(shí)工作測試;也包括擊穿耐壓,即破壞性測試,電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。
6.局放測試,即局部放電測試;
7.壽命測試,即在老化測試的基礎(chǔ)上,再對電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測試,得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命,注意,這個(gè)壽命的得出是在長時(shí)間的老化之后得出的。
二、高壓陶瓷電容自恢復(fù)期:
高溫?zé)Y(jié),是高壓陶瓷電容的最重要的工序之一。經(jīng)過一百噸的沖壓鑄造,以及一千多度的高溫?zé)Y(jié),高壓陶瓷電容的芯片內(nèi)部,各分子之間的構(gòu)造成晶體結(jié)構(gòu)。接下來的6小時(shí)的高溫烘烤,和7小時(shí)的保溫,*打亂了晶體的內(nèi)部構(gòu)造。
那么,要想恢復(fù)芯片的構(gòu)造,穩(wěn)固芯片的特性,高壓陶瓷電容需要時(shí)間恢復(fù)。自然恢復(fù)(常溫存放)以60天以上的時(shí)間為佳。而且,存放一年與存放兩年的產(chǎn)品,以時(shí)間長為表現(xiàn)優(yōu)異。所以,恢復(fù)期長,對電容器的性能是有很大幫助的,沒有恢復(fù)期的電容,其耐壓及耐電流性能是較差的。經(jīng)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn),存放時(shí)間長的高壓陶瓷電容器,其損耗角值會(huì)變得更小,高頻特性也會(huì)更好。
三、高壓陶瓷電容單位及符號(hào):
·電容的基本單位是:F(法),此外還有μF(微法)、pF(皮法),另外還有一個(gè)用的比較少的單位,那就是:nF,由于電容F的容量非常大,所以我們看到的一般都是μF、nF、pF的單位,而不是F的單位。他們之間的具體換算如下:
1F=1000000μF
1μF=1000nF=1000000pF
·電容的符號(hào):
電容的符號(hào)同樣分為國內(nèi)標(biāo)表示法和國際電子符號(hào)表示法,但電容符號(hào)在國內(nèi)和國際表示都差不多,的區(qū)別就是在有極性電容上,國內(nèi)的是一個(gè)空筐下面一根橫線,而國際的就是普通電容加一個(gè)“+"符號(hào)代表正極。
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