劉德金
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汽車啟動(dòng)節(jié)能型冷熱沖擊試驗(yàn)箱
冷脹熱縮結(jié)構(gòu)損壞測試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)箱
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 額定電壓 | 380V |
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加工定制 | 是 | 適用領(lǐng)域 | 其他 |
溫度波動(dòng)度 | 1℃ | 溫度范圍 | -65℃~150℃℃ |
溫度均勻度 | 0.5% | 重量 | 430kg |
類型 | 二箱提籃式冷熱沖擊測試機(jī) |
產(chǎn)品&規(guī)范 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán) 時(shí)間 | 備注 | |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10~12 | 3h20min | ||
MIL-344A-4-16 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | |||
MIL-2164A-19 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到設(shè)定溫度10℃時(shí) | ||
NABMAT-9492 美軍hai軍制造篩選 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到設(shè)定溫度5℃時(shí) | ||
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 | ||
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 | ||
筆記型計(jì)算機(jī) | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
冷脹熱縮結(jié)構(gòu)損壞測試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)箱(Cold & Hot Shock Test Chamber)常用于測試材料和設(shè)備在惡劣溫度變化(如冷熱交替)的環(huán)境下,是否會(huì)出現(xiàn)由于熱脹冷縮產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)損壞,特別是在一些對(duì)溫度變化敏感的電子元件、機(jī)械部件和材料中。這個(gè)測試常見于高中端電子產(chǎn)品、汽車零部件、航空航天設(shè)備、塑料及橡膠材料的質(zhì)量控制中,目的是確保這些材料或設(shè)備在使用過程中不會(huì)因溫度變化而失效。
冷熱沖擊試驗(yàn)主要是通過模擬材料或產(chǎn)品經(jīng)歷快速的溫度變化,以觀察其在惡劣溫度變化下的熱脹冷縮特性。冷脹熱縮指的是材料因溫度變化而發(fā)生膨脹(熱脹)或收縮(冷縮)的物理現(xiàn)象。冷熱沖擊試驗(yàn)通過快速的溫度交替,產(chǎn)生惡劣的應(yīng)力,導(dǎo)致材料表面或內(nèi)部發(fā)生微裂紋、變形、破裂等結(jié)構(gòu)性損壞,從而測試其抗沖擊能力和耐久性。
在進(jìn)行冷脹熱縮結(jié)構(gòu)損壞測試時(shí),通常會(huì)進(jìn)行如下操作:
快速降溫:將試樣迅速冷卻到低溫區(qū),通常低溫為-40°C、-55°C、-70°C等,具體取決于測試要求。
快速升溫:然后快速將試樣加熱至高溫區(qū),通常為85°C、100°C、150°C等。
溫度循環(huán):在低溫和高溫之間快速切換,以模擬產(chǎn)品在使用過程中經(jīng)歷的實(shí)際溫度波動(dòng)。每一個(gè)循環(huán)會(huì)增加材料的熱膨脹和收縮壓力,模擬真實(shí)環(huán)境中的冷熱交替。
通過這一過程,試驗(yàn)箱檢測材料或產(chǎn)品是否會(huì)出現(xiàn)裂紋、破損、變形、功能失效等結(jié)構(gòu)性損害。
材料可靠性測試:通過模擬惡劣溫度變化,評(píng)估材料在實(shí)際使用過程中由于熱膨脹和收縮造成的性能變化,進(jìn)而判斷其耐用性。例如,一些塑料、橡膠或金屬材料在頻繁的溫差變化下容易發(fā)生裂紋或變形,影響使用壽命。
產(chǎn)品耐候性測試:對(duì)于一些戶外使用的產(chǎn)品(如汽車零件、建筑材料、電子設(shè)備等),冷熱沖擊測試幫助評(píng)估它們在暴露于高溫和低溫環(huán)境下的可靠性和壽命。
電子元件測試:電子元件在快速的冷熱交替中可能會(huì)因焊接點(diǎn)、芯片等內(nèi)部結(jié)構(gòu)發(fā)生微裂紋或脫落,導(dǎo)致產(chǎn)品失效。通過冷熱沖擊測試可以有效模擬這些惡劣情況,確保電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性。
質(zhì)量控制與改進(jìn):通過對(duì)結(jié)構(gòu)損壞的測試,生產(chǎn)商可以發(fā)現(xiàn)材料和工藝中的缺陷,進(jìn)行針對(duì)性的改進(jìn),提高產(chǎn)品質(zhì)量和耐久性。
冷脹熱縮測試通常遵循一定的國際標(biāo)準(zhǔn),這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測試溫度范圍、溫度變化速率、測試周期等。常見的標(biāo)準(zhǔn)包括:
IEC 60068-2-14(國際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)):規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)條件下的冷熱沖擊試驗(yàn)方法。
MIL-STD-883(美國JUN用標(biāo)準(zhǔn)):針對(duì)電子元件的環(huán)境測試要求。
JIS Z 2346(日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)):適用于電子產(chǎn)品的冷熱沖擊測試。
GB/T 2423.22(中國國家標(biāo)準(zhǔn)):為電子產(chǎn)品和元件提供冷熱沖擊試驗(yàn)的測試方法。
溫度控制系統(tǒng):冷熱沖擊試驗(yàn)箱的核心部分通常包括高溫系統(tǒng)和低溫系統(tǒng)。高溫系統(tǒng)通常使用電加熱器,低溫系統(tǒng)則使用壓縮機(jī)或液氮進(jìn)行降溫。這些系統(tǒng)需要非常精確的溫度控制系統(tǒng),以確保溫度快速變化且保持穩(wěn)定。
溫度變化速率:冷熱沖擊試驗(yàn)箱能夠提供快速的溫度變化速率,通常達(dá)到5°C~10°C/分鐘,一些惡劣設(shè)備甚至能夠達(dá)到15°C/分鐘或更快??焖俚臏囟茸兓瘯?huì)加速材料的熱膨脹和收縮,從而更好地模擬實(shí)際環(huán)境條件。
快速轉(zhuǎn)換:為了達(dá)到快速的溫度轉(zhuǎn)換,試驗(yàn)箱的冷熱區(qū)通常是獨(dú)立的,并且能夠迅速切換。試驗(yàn)箱內(nèi)的樣品架或夾具可能配有自動(dòng)進(jìn)出機(jī)制,確保試驗(yàn)過程的高效性。
溫度范圍:冷熱沖擊試驗(yàn)箱的溫度范圍一般從-70°C至+150°C不等,部分惡劣設(shè)備甚至可以達(dá)到更廣泛的溫度范圍。
測試周期:測試周期通常為幾小時(shí)到幾天不等,具體時(shí)間取決于測試需求以及試樣的特性。
測試結(jié)束后,通過目視檢查、顯微鏡檢查、X射線或CT掃描等方法,評(píng)估試樣是否出現(xiàn)了裂紋、斷裂、變形等結(jié)構(gòu)損壞。同時(shí),還可以通過測試前后的性能變化,判斷材料在冷熱循環(huán)后的物理性能變化,例如硬度、強(qiáng)度、導(dǎo)電性等。
冷脹熱縮結(jié)構(gòu)損壞測試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)箱是評(píng)估材料和產(chǎn)品在冷熱交替環(huán)境下結(jié)構(gòu)損壞的重要設(shè)備,尤其在電子、機(jī)械、航空航天等領(lǐng)域中具有廣泛應(yīng)用。通過冷熱沖擊測試,生產(chǎn)商能夠有效提高產(chǎn)品的可靠性和耐用性,避免因惡劣環(huán)境造成的早期失效。同時(shí),正確使用和維護(hù)冷熱沖擊試驗(yàn)箱能夠確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性,為企業(yè)提供更好的質(zhì)量控制支持。
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