劉德金
當前位置:廣東德瑞檢測設備有限公司>>冷熱沖擊試驗箱>>節(jié)能型冷熱沖擊試驗箱>> DR-H203G計算機主板二箱式冷熱沖擊箱
產地 | 國產 | 額定電壓 | 380V |
---|---|---|---|
加工定制 | 是 | 適用領域 | 其他 |
溫度波動度 | 2℃ | 溫度范圍 | -65℃~150℃℃ |
溫度均勻度 | 1% | 重量 | 400kg |
類型 | 二箱提籃式冷熱沖擊測試機 |
產品&規(guī)范 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán) 時間 | 備注 | |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產品應力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10~12 | 3h20min | ||
MIL-344A-4-16 電子設備環(huán)境應力篩選 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | |||
MIL-2164A-19 電子設備環(huán)境應力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | 駐留時間為內部達到設定溫度10℃時 | ||
NABMAT-9492 美軍hai軍制造篩選 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | 駐留時間為內部達到設定溫度5℃時 | ||
GJB/Z34-5.1.6 電子產品定量環(huán)境應力篩選 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | 達到溫度穩(wěn)定的時間 | ||
GJB/Z34-5.1.6 電子產品定量環(huán)境應力篩選 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | 達到溫度穩(wěn)定的時間 | ||
筆記型計算機 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
主板二箱式冷熱沖擊箱 是一種專門設計用來測試計算機主板在溫度變化下的耐用性和穩(wěn)定性的設備。隨著計算機硬件技術的不斷進步,主板作為計算機的核心部件之一,其穩(wěn)定性和可靠性對于整機性能至關重要。冷熱沖擊測試模擬了設備在不同環(huán)境下可能遇到的溫度急劇變化,從而驗證主板在這種條件下是否能夠正常工作并保持性能。
雙箱設計:
高溫箱和低溫箱分開設置,通常通過一個傳輸裝置(例如,提籃、滑軌或傳送帶)將測試中的主板從一個箱體轉移到另一個箱體,確保快速切換溫度環(huán)境。
高溫箱的溫度范圍通常為60°C至150°C,低溫箱則一般為**-40°C至-70°C**。主板在這兩種環(huán)境下會經歷冷熱急劇變化。
快速溫度變化:
二箱式冷熱沖擊箱能夠快速地從一個溫度切換到另一個溫度。通常,溫度變化速度可以達到每分鐘20°C到30°C,甚至更高,模擬計算機主板可能面臨的快速環(huán)境溫差變化。
模擬實際環(huán)境:
計算機主板常常需要在各種環(huán)境下工作,冷熱沖擊測試能夠模擬在環(huán)境下的應用場景,如設備搬遷、倉儲運輸?shù)冗^程中可能發(fā)生的溫度變化。通過冷熱沖擊測試,評估主板的抗溫差變化能力,確保其能夠在高溫和低溫環(huán)境下穩(wěn)定運行。
測試次數(shù)和循環(huán):
測試通常需要進行多次冷熱循環(huán)(例如,20次、50次、100次等),每一次從低溫到高溫,或從高溫到低溫的快速轉換,都對主板的穩(wěn)定性提出了挑戰(zhàn)。
測試期間的保護:
高質量的冷熱沖擊箱配備有防冷凝裝置,以防止低溫環(huán)境下由于急劇升溫而形成水珠,避免冷凝水對主板造成電路短路或腐蝕等損害。
實時監(jiān)控:
設備通常配備了實時監(jiān)控系統(tǒng),用于記錄溫度變化、主板工作狀態(tài)、以及測試過程中出現(xiàn)的任何異常(例如主板無法啟動、藍屏死機等)。這些數(shù)據(jù)對分析主板在不同環(huán)境下的表現(xiàn)至關重要。
準備測試物品:
將計算機主板放置在冷/熱沖擊箱的托盤上,確保其固定且與環(huán)境接觸良好。主板可能需要連接到簡單的測試電路,用于實時監(jiān)控其工作狀態(tài)。
溫度變化:
測試開始時,主板首先置于高溫箱內,進行高溫測試。此時,主板需要在較高溫度下穩(wěn)定運行,檢查其對溫度升高的適應能力。隨后,主板被迅速移至低溫箱進行低溫測試,檢驗其在低溫下的啟動和穩(wěn)定性。
冷熱交替循環(huán):
在多個冷熱交替循環(huán)的過程中,主板會經歷多次從低溫到高溫,再從高溫到低溫的轉換。每次轉換都會對主板的電氣性能、熱膨脹和收縮等方面產生影響,測試其在反復冷熱沖擊中的表現(xiàn)。
性能檢測:
在冷熱沖擊測試完成后,檢查主板的各項性能指標。例如,是否能夠正常啟動,處理器、內存、硬盤等組件是否能正常工作,是否出現(xiàn)死機、藍屏或性能下降等問題。
數(shù)據(jù)記錄與分析:
測試過程中,系統(tǒng)記錄下每一次溫度變化、測試期間主板的穩(wěn)定性等數(shù)據(jù)。通過這些數(shù)據(jù),可以評估主板在環(huán)境下的長期耐用性,確定其是否符合生產標準。
主板研發(fā)與測試:
在主板的研發(fā)階段,工程師會利用冷熱沖擊箱進行高溫、低溫和冷熱交替測試,驗證設計是否符合耐溫要求,確保其能夠在各種環(huán)境條件下正常運行。
生產質量控制:
對于批量生產的主板,冷熱沖擊測試是質量控制的重要環(huán)節(jié)。通過進行嚴格的冷熱沖擊測試,確保每一塊主板的質量合格,能夠應對實際使用中的溫度變化。
國際認證與標準:
許多電子產品需要符合國際標準和認證要求,例如,MIL-STD-810(美國標準),以及IEC 60068-2-14等國際標準,冷熱沖擊測試通常是這些認證的一個重要部分。
售后服務與質量保證:
在計算機主板的售后服務中,廠家會使用冷熱沖擊箱來檢查出現(xiàn)故障的主板,確定其是否在溫差較大的環(huán)境中出現(xiàn)問題,為用戶提供更好的技術支持和質量保障。
IEC 60068-2-14:國際電工委員會標準,適用于電子設備的冷熱沖擊測試,規(guī)定了設備在溫度變化下的測試方法和要求。
MIL-STD-810:美國標準,針對設備在環(huán)境條件下的性能,包括冷熱沖擊測試。
GB/T 2423.22:中國國家標準,適用于電子產品的環(huán)境試驗,包含冷熱沖擊測試方法。
ISO 16750:汽車電子設備的環(huán)境測試標準,包含冷熱沖擊等環(huán)境測試要求。
主板二箱式冷熱沖擊箱是驗證主板在溫差變化條件下穩(wěn)定性和耐用性的關鍵設備。通過模擬溫度的急劇變化,測試主板在高溫、低溫以及冷熱交替過程中是否能夠正常工作,檢查其抗熱膨脹、收縮以及電氣穩(wěn)定性。冷熱沖擊箱廣泛應用于主板的研發(fā)、生產質量控制、認證驗證和售后服務等環(huán)節(jié),確保計算機主板能夠在各種環(huán)境下穩(wěn)定運行。
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