節(jié)能型高低溫低氣壓試驗箱是主要用于航空、航天、電子、國防、科研和其它工業(yè)部門確 定電工的電子科技產(chǎn)品（包括元器件、材料和儀器儀表）。在高低溫低氣壓單項或 同時作用下，進行貯存運輸可靠性試驗，并可同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測試。

技術(shù)特點

??節(jié)能設(shè)計 采用 PID+PWM 原理的 VRF（制冷劑流量控制）技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行配備冷控 制 PID 自動調(diào)節(jié)技術(shù)（在線性降溫和低溫恒溫過程中，通過冷控制 PID 調(diào)節(jié)制冷輸 出量達到溫度平衡,即制冷不制熱、制熱不制冷的“冷平衡"技術(shù)）。 采用該模式的設(shè)計相較于傳統(tǒng)冷熱平衡模式可節(jié)能 30%以上，具體設(shè)計方案詳 見第 8.7、8.8 條。 

? 壓力控制 設(shè)備壓力控制采用電動比例閥，根據(jù)壓力設(shè)定值與測量值自動調(diào)整比例閥開度， 以保持壓力穩(wěn)定。 電動比例閥可根據(jù)試驗需求進行壓力線性變化試驗。

? 送風裝置 設(shè)備出風口安裝雙層式可調(diào)百葉窗，可根據(jù) 9 點實測的溫度調(diào)整箱內(nèi)風量分配， 以實現(xiàn)較高的溫度均勻度和偏差。

滿足測試標準

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫

GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 M：低氣壓

GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Z/AM：低溫/ 低氣壓 

GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Z/BM：高溫/ 低氣壓

GJB 150.2A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 2 部分：低氣壓試驗

GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 3 部分：高溫試驗 

GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 4 部分：低溫試驗 

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10590-2008 高低溫低氣壓試驗箱技術(shù)條件 

GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

GB/T 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備

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