電子設備檢測高低溫試驗箱

1.1、試驗箱外殼由SUS304B制造;

1.2、試驗箱試驗空間為不銹鋼,采用不漏氣焊接工藝制造。試驗箱試驗空間備有樣品架支撐擱架,適合插入樣品架,且高度可調節(jié)。

1.3、試驗箱試驗空間與試驗箱門之間為雙層硅樹脂橡膠襯墊,可有效增強試驗箱在正常工作時的氣密性。

1.4、采用緊密的礦物棉隔離試驗箱外殼與試驗箱試驗空間,達到*的熱量損失。

1.5、所有高低溫試驗箱和高低溫濕熱試驗箱均配備一個位于左側直徑為50mm的引線孔。

1.6、試驗箱試驗空間內配備一個或二個(依照試驗空間容積)軸流風扇,軸流風扇循環(huán)試驗箱試驗空間空氣,提供*的溫度一致性和穩(wěn)定性。

內箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等

電子設備檢測高低溫試驗箱符合標準：

符合“環(huán)境試驗設備技術條件"系列標準中的：

GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GB/T 2423.3-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱

GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱 （12h+12h循環(huán)）

GB/T 2423.22-2002 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

GB/T 2423.34-2005 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗

GB/T 2423.50-1999 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗

GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術條件

GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件

GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件

快速變溫高低溫濕熱試驗箱適用產品零部件及材料在高溫、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗其可靠性各項性能指標的儀器設備。高溫時可測試產品零件、材料可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象（如：填充物和密封條軟化或融化、電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞、加速高分子材料和絕緣材料老化等）；在低溫時可測試產品零件、材料可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象（如：材料發(fā)硬變脆、電子元器件性能發(fā)生變化、水冷凝結冰、材料收縮造成機械結構變化等）。

廣東德瑞檢測設備限公司是一家專業(yè)致力于試驗儀器設備研發(fā)、銷售為一體的企業(yè),公司位于交通便利、工業(yè)繁華的東莞市。自成立以來認真精細地完善每一步檢驗程序,嚴格要求產品的每一步工藝流程,追求品質。依托企業(yè)自身的人才、技術、資金為科研、電子、汽車、石油、化工、醫(yī)療、通訊、各大院校等企事業(yè)單位,提供符合GB、GJB、IEC、MIL、DIN等標準的各類試驗設備及檢測儀器,并可根據(jù)用戶的需求設計制造各類非標專業(yè)性設備。