老化測(cè)試高低溫試驗(yàn)箱

1.1、試驗(yàn)箱外殼由SUS304B制造;

1.2、試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間為不銹鋼,采用不漏氣焊接工藝制造。試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間備有樣品架支撐擱架,適合插入樣品架,且高度可調(diào)節(jié)。

1.3、試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間與試驗(yàn)箱門(mén)之間為雙層硅樹(shù)脂橡膠襯墊,可有效增強(qiáng)試驗(yàn)箱在正常工作時(shí)的氣密性。

1.4、采用緊密的礦物棉隔離試驗(yàn)箱外殼與試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間,達(dá)到*的熱量損失。

1.5、所有高低溫試驗(yàn)箱和高低溫濕熱試驗(yàn)箱均配備一個(gè)位于左側(cè)直徑為50mm的引線孔。

1.6、試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間內(nèi)配備一個(gè)或二個(gè)(依照試驗(yàn)空間容積)軸流風(fēng)扇,軸流風(fēng)扇循環(huán)試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間空氣,提供*的溫度一致性和穩(wěn)定性。

內(nèi)箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等

老化測(cè)試高低溫試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》GB2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》

GB2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變?cè)囼?yàn)方法》GB2424.1-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》

GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》GB/T5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》GB2423.3 - 2008試驗(yàn)C《恒定濕熱試驗(yàn)方法》;

操作和控制器系統(tǒng)

2.1、操作者可通過(guò)彩色液晶觸摸屏對(duì)試驗(yàn)箱的控制器TEMI880發(fā)出指令,實(shí)現(xiàn)對(duì)試驗(yàn)箱的控制無(wú)需多加說(shuō)明的圖形符號(hào)給操作者提供了一個(gè)直觀的操作界面,使操作變的簡(jiǎn)單易行。

2.2、TEMI880是自行監(jiān)測(cè) ,特別為試驗(yàn)系統(tǒng)應(yīng)用而設(shè)計(jì)。

2.3、程序存儲(chǔ)器可以存儲(chǔ)100個(gè)試驗(yàn)程序,總試驗(yàn)程序可達(dá)1000行,99次試驗(yàn)程序循環(huán)。

2.4、可通過(guò)RS232-C串行接口與電腦相連。