孔型像質(zhì)計(jì)
像質(zhì)計(jì)是用來(lái)檢查和定量評(píng)價(jià)射線底片影像質(zhì)量的工具。又稱為影像質(zhì)量指示器，或簡(jiǎn)稱IQI，透度計(jì)。
像質(zhì)計(jì)通常用與被檢工件材質(zhì)相同或?qū)ι渚€吸收性能相似的材料制作。像質(zhì)計(jì)中設(shè)有一些人為的有厚度差的結(jié)構(gòu)如槽、孔、金屬絲等，其尺寸與被檢工件厚度有一定關(guān)系。射線底片上的像質(zhì)計(jì)影像可以作為一種性的證據(jù)，表明射線透照檢測(cè)是在適當(dāng)條件下進(jìn)行的，但像質(zhì)計(jì)的指示數(shù)值并不等于被檢工件中可以發(fā)現(xiàn)的自然缺陷的實(shí)際尺寸。
工業(yè)射線照像用的像質(zhì)計(jì)有金屬絲型、孔型、槽型三種。其中金屬絲型應(yīng)用，中國(guó)、日本、德國(guó)、英國(guó)、美國(guó)，以及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)均采用此種像質(zhì)計(jì)，此外，美國(guó)還采用平板孔型像質(zhì)計(jì)，英國(guó)法國(guó)還采用階梯孔型像質(zhì)計(jì)。如使用的像質(zhì)計(jì)類型不同，即使照相方法相同，一笛膜所得的像質(zhì)計(jì)靈敏度也是不同的。
除上述像質(zhì)計(jì)外，還有一種雙絲型像質(zhì)計(jì)，這種像質(zhì)計(jì)不是用來(lái)測(cè)量射線照相靈敏度，而是用來(lái)測(cè)量射線照相不清晰度的。
像質(zhì)計(jì)的構(gòu)造特點(diǎn)
金屬絲型像質(zhì)計(jì)
按金屬直徑的變化規(guī)律，金屬絲型像質(zhì)計(jì)分為等差數(shù)列，等比數(shù)列，等徑，單絲等幾種形式。目前世界上以等比數(shù)列像質(zhì)計(jì)應(yīng)用普遍。金屬絲型像質(zhì)計(jì)以七根編號(hào)相連接的金屬線為一組，每個(gè)像質(zhì)計(jì)中所有金屬線應(yīng)由相同材料構(gòu)成，并固定在弱吸收材料制成的包殼中。像質(zhì)計(jì)金屬線應(yīng)相互平行排列，其長(zhǎng)度有三種規(guī)格分別為10mm 20mm 50mm
像質(zhì)計(jì)按材料不同可分為：鋼質(zhì)像質(zhì)計(jì)，鋁質(zhì)像質(zhì)計(jì)，鈦制像質(zhì)計(jì)，銅質(zhì)像質(zhì)計(jì)等，分別用代號(hào)FE,AL,TI,CU代表。照相時(shí)像質(zhì)計(jì)材質(zhì)應(yīng)與試件相同，當(dāng)缺少同材質(zhì)像質(zhì)計(jì)時(shí)，也可用原子序數(shù)低的材料制作的像質(zhì)計(jì)代替。
平板孔型像質(zhì)計(jì)
平板孔型像質(zhì)計(jì)是在均勻厚度的平板上鉆上定尺寸的小孔制成，美國(guó)ASME規(guī)范，ASTM規(guī)范，MIL標(biāo)準(zhǔn)，以及歐洲標(biāo)準(zhǔn)EN1435,中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)GB3323均采用此種像質(zhì)計(jì)。
槽型像質(zhì)計(jì)和階梯孔型像質(zhì)計(jì)應(yīng)用較少。
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