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涂層測(cè)厚儀CM-8820: 測(cè)量鐵磁性金屬基體上的非導(dǎo)磁涂層的厚度測(cè)量范圍: 0～1000um/0-40mil(標(biāo)準(zhǔn)量程)分辨率: 0.1 um (小于100u...

涂層測(cè)厚儀CM-8823功能: 測(cè)量鋁基上的非導(dǎo)電涂層的厚度測(cè)量范圍: 0～1000um/0-40mil(標(biāo)準(zhǔn)量程)分辨率: 0.1 um (小于100um)1...

非鐵基涂層測(cè)厚儀CM-8828功能：測(cè)量導(dǎo)磁物體上的非導(dǎo)磁涂層和非磁性金屬基體上的非導(dǎo)電覆蓋層的厚度測(cè)量方法：F 磁感應(yīng)NF渦流測(cè)量范圍：0～200um/500...

涂層測(cè)厚儀CM-8825測(cè)厚儀/涂層測(cè)厚儀/CM-8825/CM8825測(cè)量范圍：0～200um/500um/1000um/～15000um分辨率：0.1/1z...

層測(cè)厚儀MC-2000A MC-2000 A 型測(cè)量范圍：0-1500um MC-2000 C 型測(cè)量范圍：0-5000um MC-2000 D 型測(cè)量范圍：1...

涂層測(cè)厚儀MC-2000CMC-2000 A 型測(cè)量范圍：0-1500um MC-2000 C 型測(cè)量范圍：0-5000um MC-2000 D 型測(cè)量范圍：1...

層測(cè)厚儀MC-2000D1、測(cè)量范圍 ：　　10~9000μm2、測(cè)量誤差：　　3%±1μm3、zui小示值：　　1μm

涂層測(cè)厚儀KD-1測(cè)量范圍：0-1000um 測(cè)量精度：±(3%厚度值+1)um

涂層測(cè)厚儀AR-931測(cè)量范圍 0-1999μm測(cè)量精度 ±(3%H+1)分辨率 0.1 / 1μm系統(tǒng)誤差修正丶零點(diǎn)及兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能 √

涂層測(cè)厚儀CM-8825F層的厚度測(cè)量方法:F 磁感應(yīng) NF 渦流測(cè)量范圍:0~200um/500um/1000um/~15000um 分辨率:0.1/1 zu...

涂層測(cè)厚儀Surfix 型適合所有金屬基材上的測(cè)量 Surfix N型 型適合鋼鐵基材上的測(cè)量 Surfix F型 型適合有色金屬基材上的測(cè)量

SurfixBFN分體式基本型涂層測(cè)厚儀適合所有金屬基材上的測(cè)量 Surfix BF型 分體式基本型適合鋼鐵基材上的測(cè)量 Surfix BN型 分體式基本型適合...

涂層測(cè)厚儀QuaNix85001.高精度、大量程 2.一體化設(shè)計(jì)，可更換探頭 3.可選擇單點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn) 4.中文操作菜單 5.背光液晶

TIME2510原裝正品時(shí)代手持式涂層測(cè)厚儀TIME2510（TT210舊型號(hào)）·設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值...

TT260涂鍍層測(cè)厚儀 TT260 涂鍍層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不...

TT4100涂層測(cè)厚儀 油漆測(cè)厚儀 TT4100鍍層測(cè)厚儀根據(jù)探頭類(lèi)型的不同，采用了磁性法和渦流法兩種測(cè)厚方法。F型探頭采用磁性法，可測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵...

TT3100涂層測(cè)厚儀 測(cè)值穩(wěn)定【時(shí)代儀器TT3100】N型探頭采用渦流法，可測(cè)量非鐵磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）和奧氏體不銹鋼上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如:...

TIME2501涂層測(cè)厚儀?本儀器采用了渦流測(cè)厚法，可無(wú)損傷地測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）可進(jìn)行零點(diǎn)...

TT820數(shù)字式涂層測(cè)厚儀 TT820涂層測(cè)厚儀TT820采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距...

TT240便攜式涂層測(cè)厚儀 【時(shí)代儀器TT240】當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化...