EDX-9000B PLUS XRF Spectrometer能量色散X熒光光譜儀礦產(chǎn)礦石專用分析儀
EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產(chǎn)/礦石分析專家
ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)(勘探、開采、品位控制),工業(yè)礦物,生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究,考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動(dòng)態(tài)范圍,可實(shí)現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行超高精度的過(guò)程控制和質(zhì)量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測(cè)器,對(duì)輕、中、重元素和常見氧化物(Na2O、MgO、Al2O?、SiO?、P2O5、SO?、K2O、CaO、TiO?、Cr2O?、MnO、Fe2O?、ZnO和SrO等)都可達(dá)到分析效果。
EDX9000B plus可以輕松完成對(duì)以下礦種的測(cè)試:
鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)鋁土礦其它礦類
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析2.可同時(shí)分析40種元素3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì),雙真空抽速機(jī)構(gòu),真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng)6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件,多任務(wù),多窗口操作7.薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限
礦產(chǎn)元素檢測(cè)專家EDX9000B Plus>儀器參數(shù)
>儀器配置
全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。
*光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量*對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的校正,即所有基質(zhì)效應(yīng),增強(qiáng)和吸收。*譜顯示:峰定性,KLM標(biāo)記,譜重疊比較,可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖*可以通過(guò)積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng),將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。*可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對(duì)于包含大量低Z材料的樣品)或通過(guò)簡(jiǎn)單的最小二乘擬合進(jìn)行定量分析。*基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn),多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。鋁土礦樣品10次連續(xù)測(cè)試穩(wěn)定性報(bào)告