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熒光光譜儀EDX9000B 測定鎂耐火材料中成分能散型XRF

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產(chǎn)品型號XRF9000B

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更新時間：2023-06-16 09:46:43瀏覽次數(shù)：574次

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蘇州英飛思科學儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地	國產(chǎn)	分析元素種類	Na-U
加工定制	是	能量分辨率	128eV
儀器種類	臺式	重復性	0.02%

經(jīng)驗系數(shù)法 EC-X 射線熒光光譜儀 EDX9000B 測定鎂耐火材料中的 10 種成分
為滿足各類鎂質(zhì)耐火材料的測量要求，本實驗采用試樣與混合熔劑（Li2B4O7-LiBO2-LiBr）按1:10稀釋比例，1 050 ℃熔融20 min制備玻璃板。使用 X 射線熒光光譜儀（XRF）。 EDX9000B測定鎂質(zhì)耐火材料中MgO、CaO、SiO2、Al2O3、Fe2O3、MnO、P2O5、TiO2

詳細介紹

經(jīng)驗系數(shù)法 EC-X 射線熒光光譜儀 EDX9000B 測定鎂耐火材料中的 10 種成分

為滿足各類鎂質(zhì)耐火材料的測量要求，本實驗采用試樣與混合熔劑（Li2B4O7-LiBO2-LiBr）按1:10稀釋比例，1 050 ℃熔融20 min制備玻璃板。使用 X 射線熒光光譜儀 (XRF)。 EDX9000B測定鎂質(zhì)耐火材料中MgO、CaO、SiO2、Al2O3、Fe2O3、MnO、P2O5、TiO2、Cr2O3、K2O等10種成分。光譜純物質(zhì)、標準樣品、純物質(zhì)和標準溶液用于合成樣品和化學測定使用經(jīng)驗系數(shù)法制作校準曲線，比較矩陣項的計算值，選擇校準項參與矩陣每個組件的效果校正。各組分校準曲線精確擬合，有效克服了鎂質(zhì)耐火材料基體效應對材料中各組分測定的影響。對樣品進行精密度測試，相對標準偏差（RSD，n=7）在0.053%～3.1%之間。考察標準樣品和未知樣品的準確度，測量值與標準值或濕值一致

關(guān)鍵詞：光譜儀標準