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TSI P-Trak8525超細(xì)顆粒計數(shù)器
產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 否 |
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Naneos Partector TEM納米粒子顆粒采樣器是簡單性與強大功能之間的完美結(jié)合:您可以將其用作簡單的調(diào)查工具,以快速識別工作場所中的納米顆粒來源。您也可以使用它直接將顆粒采樣到標(biāo)準(zhǔn)透射電子顯微鏡(TEM)網(wǎng)格中。當(dāng)涉及單顆粒分析時,TEM是強大的分析技術(shù)。如果您擁有諸如TEM / SEM顯微鏡之類的輔助工具以進(jìn)一步查看粒度分布和顆粒形態(tài)以及/或用于分析被顆粒化學(xué)成分的分析儀器,那么Partector TEM將發(fā)揮大的作用。
Naneos Partector TEM納米粒子顆粒采樣器?可讓您使用一臺儀器全面評估工作場所安全。Partector TEM采樣器是*可以在線確定樣品覆蓋率并在達(dá)到Z佳覆蓋率時停止采樣的納米顆粒采樣器。它是一種綜合測量,允許首*行測量,然后僅在必要時進(jìn)行采樣。由于TEM沉積機制是由檢測到的濃度控制和監(jiān)視的,因此您再也不會有空的或超載的樣品。利用Goog個 Earth Java工具,它可以顯示在哪里測量濃度。
特點:
優(yōu)勢:
應(yīng)用:
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