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薄膜厚度測(cè)量?jī)xTHK-01主要參數(shù)
薄膜厚度測(cè)量?jī)xTHK-01適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的精確厚度測(cè)量，又稱為薄膜測(cè)厚儀、薄膜厚度測(cè)試儀等。
薄膜厚度測(cè)量?jī)x
薄膜厚度測(cè)量?jī)x主要參數(shù)：
專業(yè)名稱：測(cè)厚儀
儀器型號(hào)：THK-01
測(cè)量范圍：0～2mm（標(biāo)配）；0～6mm、0～12mm（選配）
分辨率：0.1μm
測(cè)試速度：1～25次/min
測(cè)量頭平行度：±2μm（機(jī)械調(diào)整，量塊校驗(yàn)）
重復(fù)性：0.3μm
測(cè)量壓力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(紙張)；
接觸面積：50mm2(薄膜)； 200mm2 (紙張)；
薄膜、紙張任選一種，非標(biāo)可定制
電源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
約凈重：30Kg
檢測(cè)原理：
將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測(cè)量面上，與下測(cè)量面平行且中心對(duì)齊的上測(cè)量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測(cè)量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測(cè)出上下測(cè)量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。
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